UCC21750: UCC21750的DESAT检测断开之后,芯片仍然报FLT故障
Part Number:UCC21750 您好,UCC21750驱动一个SiC功率器件,电流上升之后FLT报故障变为低电平,为了测试,我把芯片的DESAT引脚后的检测电路和SiC器件的D极断开,同时把DESAT引脚和COM引脚短接上,继续加...
Part Number:UCC21750 您好,UCC21750驱动一个SiC功率器件,电流上升之后FLT报故障变为低电平,为了测试,我把芯片的DESAT引脚后的检测电路和SiC器件的D极断开,同时把DESAT引脚和COM引脚短接上,继续加...
Part Number:UCC21750-Q1Other Parts Discussed in Thread:UCC21750 UCC21750的AIN引脚,可以直接接运算放大器的输出么?具体为:目前的应用中,SiC模块使用的温度传感器是P...
Part Number:UCC21750QDWEVM-025Other Parts Discussed in Thread:UCC21750 想问一下,要和ucc21750搭配的控制器有哪些可以选择的,之前关注过UCC5870用的是 LAU...
Other Parts Discussed in Thread:UCC21530-Q1, UCC21759-Q1, UCC21750, UCC21739-Q1, UCC21732-Q1, ISO5851, ISO5851-Q1, ISO58...
Part Number:UCC21750Other Parts Discussed in Thread:UCC21710, 对于 SiC 驱动,我们需要缩短短路检测时间! 该值由消隐电容器的容值和内部 DESAT 充电电流固定值 (500u...
Part Number:UCC21710Other Parts Discussed in Thread:UCC21750-Q1, , UCC21750, , UCC21736-Q1, UCC21732-Q1, UCC21732, UCC21...
Part Number:UCC21750 UCC 21750 内部损坏,1脚、3脚,8脚相互导通异常, 一般会是什么原因引起的? Sider: 1,AIN 3,COM 8 VEE —电源导致的电源引脚的损坏 —是VI...
关于UCC21750芯片AIN口用于采集IGBT结温(通过片上温敏二极管)时有些疑问: 1)目前的IGBT片上温敏二极管采样的设计流通电流大多为1mA左右,而21750芯片的电流源大小为200uA无法满足采样要求,当时...
2019 TI 系统级电源设计研讨会相关学习资料汇总下载 本次研讨会具体介绍了 TI 最新高压电源产品线及其相关技术。具体包含三个主题:MOSFET,IGBT 和宽带隙应用的栅极驱动器设计基础,如何降低 75W-600W AC /...