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标签:LM5175-Q1

LM5175-Q1: pspice环路稳定性测试-TI中文支持网
电源管理

LM5175-Q1: pspice环路稳定性测试

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Part Number:LM5175-Q1 PSPICE进行环路稳定性仿真时输出的结果不太对,请教下是否是测试的方式不对 Johnsin Tao: HI     TI这边测试环路稳定一般是在高边反馈电阻上并联一个小阻值电...

LM5175-Q1: 芯片烧坏,高侧驱动无输出-TI中文支持网
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LM5175-Q1: 芯片烧坏,高侧驱动无输出

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Part Number:LM5175-Q1 1.输入端电源箱显示电流只有40mA但芯片发烫严重(空载,中间BUCK) 2.将BUCK-BOOST拓扑架构断开,只焊接上低侧的MOS管子,低侧驱动有输出且输出电压正常,但高侧驱动就是没输出(BU...