DAC3161应用IO TEST问题
DAC3161在应用中若要使用IO TEST该怎么用?我现在能输出正常波形,但温度变化过大后,可能会有FPGA和DAC数据接口时序不匹配问题。调整寄存器延时后又能恢复正常。所以想用DAC芯片内部的IO TEST功能实现接口时序先验证再工作。...
DAC3161在应用中若要使用IO TEST该怎么用?我现在能输出正常波形,但温度变化过大后,可能会有FPGA和DAC数据接口时序不匹配问题。调整寄存器延时后又能恢复正常。所以想用DAC芯片内部的IO TEST功能实现接口时序先验证再工作。...
通过FPGA提供时钟给DAC3161的DACCLK,但是FPGA提供的是LVDS电平,而DAC3161的DACCLK是LVPECL电平。 两者不能直接对接,可以通过AC耦合方式对接。但是查看DAC3161的数据手册,有这么一段话不太理解:L...