有关TL074IDR运放问题咨询

我司在使用TL074IDR时，经常有IC烧坏现像。

放损坏特征：表面明显看到一个小坑，通电测量运放的输出接近正电源或负电源。

运放损坏概率：最近半年的统计数据显示0.3%。

运放的应用电路：变频器的电流经过HALL检测后经过运放(TL074)整定后送CPU处理，是成熟电路

想问一下TI：

1、该运放的产地都有哪些？多个产地封装出来的IC差别有多大？

2、出现这种问题，TI技术人员能不能与我司技术人员当面交流。

以上，请回复

KW X：

出现小点；说明是过热烧毁。从你的描述看，失效与ESD有关。

Andy Tan：

你好，看你这情况像是烧坏？请提供下你的原理图，

yanhui liu：

回复 Andy Tan:

1、原理图如附件图片

2、运放供电电压是+　-15V

3、输入信号是0-50HZ电流信号（通过电阻+7840检测出来的差分信号）