TI中文支持网昨天很兴奋发现了PGA281，温飘、INL都很不错的样子
仔细看了DATASHEET，发现长期稳定性貌似给的只是offset的漂移量，想问问有没有PGA281、PGA280 gain的长期指标呢？
谢谢
PS：TI高精度设计那几篇文章不错！除了部分翻译貌似有些问题:P
Carter Liu：
增益的稳定性指标都在第八页呢
sir chen：
回复 Carter Liu:
那个是温飘…我要的是增益的long term drift
如果增益没有long term drift指标，强调offset的long term drift没什么意义吧…
sir chen：
回复 Carter Liu:
第八页
图7.图8.图9.图11.图12.是增益误差的分布量吧
图10是温飘量
我想获得的是增益的Long term drift数据
没有增益的长期稳定度数据，强调offset的长期稳定性没什么意义吧…
sir chen：
顶一下:)
Joel Li：
回复 sir chen:
貌似手册上真没有写增益的长期稳定度。
说说我的理解：因为半导体老化及与外部空气等接触的原因，必然是造成失调和增益变化的，一般而言，失调部分没有反馈来补偿，而增益级靠反馈实现，即增益电阻（当然IC内部靠PN结等实现）的变化经过反馈环路后，其老化的影响大为减弱，所以失调长期稳定性的影响要大于增益长期稳定性的影响，所以多数器件只给出失调随时间的变化情况。基于这样的分析，如果失调变化远大于增益变化，那给出增益随时间变化的意义也就不大了。
而PGA281使用的稳零技术相当于在失调处也引入了反馈补偿，所以削弱了失调长期变化的范围。
没有回答你的问题，仅仅是我的分析，供参考。
sir chen：
回复 Joel Li:
很感谢Joel的分析，我不懂芯片设计，被你扫了一下盲，很爽 😀
我这里做的是标准电能表，测的是交流信号，所以直流失调的长期稳定性我这里倒是不太关心
以前公司改增益的时候大多数是改磁性元件的比例(改互感器的匝比)实现的，磁性元件的交流增益长期稳定性是久经考验的，拆过国外的标准表，高精度的0.01级都是通过改磁性元件实现的，等级低的>0.05级会使用PGA。（这里0.01级是要求整机年变差小于正负0.01%，其他等级同理）
现在就比较困惑到底PGA的增益长期稳定性如何，因为光是电阻的长期稳定性就不是这么容易做，像VISHAY最好的箔电阻是几年几PPM，但一个电阻的价格就顶几个PGA芯片了。你说的增益经过反馈环路后老化的影响大为减弱，这个我不是太理解，增益比例至少得两个增益电阻决定吧，假设其中一个电阻老化后阻值变了，反馈环路能减弱它对增益的影响？
即使测的是直流信号，增益的稳定性应该也比较重要吧，因为有些情况下，失调还可以通过短接输入端测出失调量，然后修正回去，但增益就没那么容易处理了吧
我想了解的是：
像PGA281，AD8253….等直接可控增益的PGA，和需要外接电阻的PGA + 高稳箔电阻的放大器，以及用运放 + 高稳箔电阻组成的放大器，这三者之间，到底增益的长期稳定性谁更好？相差大概多远？
我是前几天搜“PGA 增益 长期稳定性”的时候搜到PGA281的，虽然看到长期稳定的是失调，但也让人买些回来准备做做试验，但长期稳定性不是这么容易测的，所以希望TI能有官方数据参考参考。
各种盲，求扫 😀
pei sen fang：
回复 sir chen:
顶！
