根据datasheet,向0xB0,0xB1,0xB2三个寄存器通过i2c进行读写,来产生test pattern;但是,在向IND_ACC_ADDR (0xB1)写入数据0x01成功之后,芯片就无法对任何寄存器进行读写了,重新上电(使用pin PDB)后才能重新对寄存器读写。同样的IND_ACC_ADDR (0xB1)写入数据0x02之后就不影响其他寄存器的读写。请问这是什么原因
Amy Luo:
您好,
请问您的问题解决了没有,您可以参考E2E论坛网友的情况,看下是不是同样的原因造成的:e2e.ti.com/…/3051486