采用的程序就是 controlSUITE中的adc-soc-epwm中的程序,修改EPwm1Regs.TBPRD来提高采样率,但是这个值小于0x80后,再降低就不起作用了,取0x80采样率还不到200k,所以,请问采用什么办法能提高ADC的采样率?
rookiecalf:
adc的转换时间是最终的制约因素,到了极限就不能升了。什么控制要200K的采样率?
采用的程序就是 controlSUITE中的adc-soc-epwm中的程序,修改EPwm1Regs.TBPRD来提高采样率,但是这个值小于0x80后,再降低就不起作用了,取0x80采样率还不到200k,所以,请问采用什么办法能提高ADC的采样率?
lili ye:
回复 rookiecalf:
ADC的转换时间是多少?我们是专门做数据采集的,200k没有办法满足要求的
采用的程序就是 controlSUITE中的adc-soc-epwm中的程序,修改EPwm1Regs.TBPRD来提高采样率,但是这个值小于0x80后,再降低就不起作用了,取0x80采样率还不到200k,所以,请问采用什么办法能提高ADC的采样率?
lili ye:
回复 lili ye:
我觉着这款芯片ADC的采样率肯定不止200k,原来用F28335的时候,28335的ADC都能达到近400k,所以可能还是哪里没有弄对
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rookiecalf:
回复 lili ye:
16bit模式是1.1M,12bit是3.5M,你需要看一下ad采样的寄存器配置
采用的程序就是 controlSUITE中的adc-soc-epwm中的程序,修改EPwm1Regs.TBPRD来提高采样率,但是这个值小于0x80后,再降低就不起作用了,取0x80采样率还不到200k,所以,请问采用什么办法能提高ADC的采样率?
lili ye:
回复 rookiecalf:
找了半天,没有找到,不知道有没有人碰到相似的问题的,给指点一下呗。
采用的程序就是 controlSUITE中的adc-soc-epwm中的程序,修改EPwm1Regs.TBPRD来提高采样率,但是这个值小于0x80后,再降低就不起作用了,取0x80采样率还不到200k,所以,请问采用什么办法能提高ADC的采样率?
rookiecalf:
回复 lili ye:
可以设定采样窗:
Acquisition window = (ACQPS + 1)∙(System Clock (SYSCLK) cycle time)
更详细的内容参看手册第九章ADC部分:
http://www.ti.com.cn/cn/lit/ug/spruhx5c/spruhx5c.pdf
采用的程序就是 controlSUITE中的adc-soc-epwm中的程序,修改EPwm1Regs.TBPRD来提高采样率,但是这个值小于0x80后,再降低就不起作用了,取0x80采样率还不到200k,所以,请问采用什么办法能提高ADC的采样率?
囧:
你现在是采样几个通道,F28377单个ADC单个通道最高主屏是50MHz,12位ADC的最快采样保持时间是75ns,加上转换时间325ns,以及存储到结果寄存器需要两个ADCCLK,差不过要450ns
采用的程序就是 controlSUITE中的adc-soc-epwm中的程序,修改EPwm1Regs.TBPRD来提高采样率,但是这个值小于0x80后,再降低就不起作用了,取0x80采样率还不到200k,所以,请问采用什么办法能提高ADC的采样率?
lili ye:
回复 囧:
单路AD,450ns算来采样率还要2M呢,我现在只能达到220k,改变EPwm1Regs.TBPRD的值,可以增加采样率,但是最小设置为0x30,就不能再小了,所以现在不清楚哪里出了问题
还有就是,如果双路AD采样的话,两路分别的采样率会由原来的220k降到160k,按理说每路AD都有自己的S/H(采样保持器),相互之间不会影响采样率啊,为什么会下降呢?
采用的程序就是 controlSUITE中的adc-soc-epwm中的程序,修改EPwm1Regs.TBPRD来提高采样率,但是这个值小于0x80后,再降低就不起作用了,取0x80采样率还不到200k,所以,请问采用什么办法能提高ADC的采样率?
lili ye:
回复 lili ye:
ADCLK为50M,采样窗宽是15个SYSCLK,EPwm1Regs.TBPRD=0x30,除此之外还有什么影响采样率呢
采用的程序就是 controlSUITE中的adc-soc-epwm中的程序,修改EPwm1Regs.TBPRD来提高采样率,但是这个值小于0x80后,再降低就不起作用了,取0x80采样率还不到200k,所以,请问采用什么办法能提高ADC的采样率?
囧:
回复 lili ye:
主要就是触发源,采样窗的大小决定