am335x触摸屏（电阻屏）校准问题？

我目前在基于am335x的板子做一个电阻屏校准应用程序。根据原理，tp坐标是(X_t ,Y_t)分辨率是（W_t x H_t ），lcd坐标是(X,Y)，分辨率是(W x H)，则 X=(X_t *W)/W_t， Y=(Y_t *H)/H_t 。在java中就像这样：

cal.y = (int)(event.getY()*4096.0/(float)Y_RES ); 

然后可以获得a0~a6七个系数 ，带入其中： xfb = (x*a[1]+y*a[2]+a[0])/a[6]     yfb = (x*a[4]+y*a[5]+a[3])/a[6]  ，校准基本完成。

可是我在实际中发现触摸屏的分辨率并不是4096*4096. 而是跟内核board-am335xevm.c中触摸屏的结构体有关：

static struct tsc_data am335xevm_touchscreen_data = {
 .wires = 4,
 .x = {
  .min = 0x13A,
  .max = 0xF29,
  .inverted = 0,
 },
 .y = {
  .min = 0xB8,
  .max = 0xF1E,
  .inverted = 0,
 },
 .x_plate_resistance = 200,
 .steps_to_configure = 5,
};

触摸屏分辨率等于最大值减最小值。我想知道最大值和最小值是怎么获得的？？是不是实际测出来的。而且，由于每个屏幕特性不一样，导致每个屏幕的最大值和最小值不一样，导致每个屏幕分辨率不一样？？假如每个屏幕的特性相差很远，是不是每个屏幕的这个结构体都需要修正，我后面的校准程序才会正常使用。

Steven Liu1：

4096的定义并不是我们对于屏幕分辨率的限制，而是ADC是12bit的，那么采样出来的结果精度就是2的12次方，电阻触摸屏，在两个边缘，一个是0，一个是4096，你点在中间的坐标就可以通过ADC的电压采样值算得。个人理解，每个屏幕的特性相差再远，你点在触屏的某一点的相对位置的测量电压是一定的，因为电阻在X轴上是连续均分的，所以不管触屏多大，你点在X轴中间的话，采样算出来的一定是2048。由此能计算出你点的相对位置。

话说，你是用的linux吗？为啥不用ts_calibrate来校准呢？

Steven Liu1：

4096的定义并不是我们对于屏幕分辨率的限制，而是ADC是12bit的，那么采样出来的结果精度就是2的12次方，电阻触摸屏，在两个边缘，一个是0，一个是4096，你点在中间的坐标就可以通过ADC的电压采样值算得。个人理解，每个屏幕的特性相差再远，你点在触屏的某一点的相对位置的测量电压是一定的，因为电阻在X轴上是连续均分的，所以不管触屏多大，你点在X轴中间的话，采样算出来的一定是2048。由此能计算出你点的相对位置。

话说，你是用的linux吗？为啥不用ts_calibrate来校准呢？