芯片失效率

有人知道SN 29500吗? 如果用SN29500去计算元器件在特定条件下的失效率的话，首先需要知道集成芯片内部包含的晶体管的数量（或门电路的数量），请问这个参数如何获取？只需要知道一个大概的数量即可。

gaoyang9992006：

SN29500是西门子的关于元器件失效率计算的标准,用于在功能安全FMEDA分析中使用,是FMEDA分析必备的输入之一。你还是去西门子问问吧

Echo Chen19：

回复 gaoyang9992006:

gaoyang9992006SN29500是西门子的关于元器件失效率计算的标准,用于在功能安全FMEDA分析中使用,是FMEDA分析必备的输入之一。你还是去西门子问问吧

Echo Chen19：

TI 芯片内包含的晶体管数量，西门子会知道？？？？

Susan Yang：

TI也有相关的数据及其工具，您可以看一下

www.ti.com/…/estimator.tsp

更详细的说明的话，建议您在下面的链接询问，会有对应的国外工程师回答

e2e.ti.com/…/312

Echo Chen19：

回复 Susan Yang:

您提供的信息有帮助。 谢谢您！

Susan Yang：

回复 Echo Chen19:

很高兴能帮到您！