TI中文支持网MCU：MSP430F169
ADC_CLK：AD内部时钟
转换模式：连续通道一次转换
参考电平：外部+3.0V
现象描述：每个采集周期，在AD采集端口产生幅度约0.4V的干扰脉冲。
干扰脉冲形态：
部分电路原理图：
注：AD采集端口的输入均是运放的输出。
做了以下调试：
1.AD中断程序读取数据，中断程序跳出后，产生干扰脉冲。
2.调整ADC采样时钟、参考电平（内部参考）、采样保持时间，干扰脉冲仍周期性的存在，不同的采样时钟、采样保持时间，其周期不同。
3.采集AD1通道时，AD2~3通道亦产生同周期的干扰脉冲。
4.AD1~2端口与被采集电路断开，外接0.1V电平到AD1采集端口时，仍旧会产生周期性的干扰脉冲。
灰小子：
猜不到。方便的话，建议提供下代码和更完整的电路
Hongqin Zhang：
回复 灰小子:
方便的话，可以加下你QQ么？
Maka Luo：
首先需要确认是MCU AD模块产生的干扰还是你外部硬件电路产生的？
从经验上来看，应该是你外部硬件电路导致的。
Hongqin Zhang：
回复 Maka Luo:
谢谢你帮我看这个问题。把与AD模块连接的硬件电路全部断开，AD0外接直流电源0.1V，仍旧是会产生干扰。调节时钟、采样保持时间，也只是周期在变化，但是现象仍旧是存在。和采集模式有关系么？我现在采用的是连续通道一次转换。片子内部参考2.5V是根据外接的VDD+3.0V产生的么，或者是他们二者有关系么？会不会和电源系统有关系。谢谢
