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ADC083000: 芯片无法正常工作(采数)

Part Number:ADC083000

       当前使用FPGA芯片控制ADC083000工作,FPGA输出的时钟是600Mhz,使用DDR模式接收ADC输出的数据。    

       当前使用的是交流耦合模式。然后通过外部扩展模式(SPI接口)配置ADC083000。当前的状态是,通过SPI接口配置,ADC芯片能进入测试模式。这时FPGA能正确接收到ADC输出的测试数据。但是当模式切回正常的采样模式的时候,FPGA接收到的数据为全FF,且OR一直显示为高。但是此时模拟输入没有加入激励信号。

Amy Luo:

您好,

OR是高电平说明输入超出输入范围了:

lei feng 说:但是此时模拟输入没有加入激励信号。

没有加入激励信号是悬空吗?模拟输入一般不建议悬空,会耦合周围的电磁干扰。

这里建议您将模拟输入端输入有效信号,看是否可以正确采集?

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lei feng:

你好,模拟输入端接有效信号后依然不能正确采集。

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Amy Luo:

此时OR状态是什么?模拟输入信号幅值和频率是什么?可以附上ADC083000 前端输入电路吗?

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lei feng:

你好,输入幅度在200mv左右,频率很低

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lei feng:

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Amy Luo:

“输入幅度在200mv左右”是指上图中QADC_IN_P/QADC_IN_N处的差分幅值吗?还是输入耦合电容之前的电压?VCMO是否接地?

QADC_IN_P/QADC_IN_N是连接的ADC083000 输入管脚VIN+/VIN-吗?

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Amy Luo:

lei feng 说:模拟输入端接有效信号后依然不能正确采集。

不能正确采集具体现象是什么?输出还是全F吗?此时OR状态是什么?

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lei feng:

输出全F,且OR一直为高

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Amy Luo:

请给出下面问题的答复:

Amy Luo 说:

“输入幅度在200mv左右”是指上图中QADC_IN_P/QADC_IN_N处的差分幅值吗?还是输入耦合电容之前的电压?VCMO是否接地?

QADC_IN_P/QADC_IN_N是连接的ADC083000 输入管脚VIN+/VIN-吗?

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lei feng:

问题已解决,但是原因很奇怪。

我们原理图里的Calrun信号接了上拉,把上拉去掉后,ADC就能正常工作了。但是这个信号在数据手册里只是一个output引脚啊。为什么会让芯片无法正常工作呢?

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Amy Luo:

看下面截图描述,Calrun 如果是高电平的话,说明校准还没有完成,那么DCLK就没有输出,Calrun pin 有拉高的时候,DCLK可以正常输出吗?

如果DCLK没有输出,我估计芯片内部有对Calrun pin电平检测机制,外部拉高影响了Calrun pin 电平检测电路的工作,造成没有DCLK输出。

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lei feng:

硬件电路上把calrun拉高了,测试中,DCLK是有时钟输出的。

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Amy Luo:

lei feng 说:但是当模式切回正常的采样模式的时候,FPGA接收到的数据为全FF,且OR一直显示为高。但是此时模拟输入没有加入激励信号。

此时您有没有检测calrun管脚的状态?此时是低电平吗?因为低电平表示校准完成。如果在校准过程中,使用内部模拟开关从内部转换器断开模拟输入信号,且SPI接口不处于有效状态(除了写入校准位以启动校准过程外)

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lei feng:

calrun信号在外部已被强上拉,应该是先低后变高

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Amy Luo:

我的意思是您需要检测calrun信号,等低电平后即校准完成后才能采集模拟输入信号。如果校准没完成,模拟输入是断开的,这可能导致OR是高电平,采集的数据是全FF。

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