TI中文支持网Part Number:OPA656
OPA656 在输入脉冲信号比较高的时候，用示波器交流档测输出信号，发现交流的基线会抬高。 下图是原理图，实际电路板上R31为1.5M,C28未焊接，C25和C26未焊接
下面MP4文件是录的示波器在AC交流模式下，调整入射光强度，测TIA输出的过程视频。
(function(id)
{
var v = document.getElementById(id);var op = v.style.position, ol = v.style.left, or = v.style.right, fe = [];
var nodeLimit = 50;
checkVideo = function() {
if (!v.canPlayType || v.error) {
var bound = 0;
while (v.childNodes.length > 0 && bound < nodeLimit) {
bound++;
if (v.childNodes[0].nodeName != 'SOURCE') {
v.parentNode.insertBefore(v.childNodes[0], v);
}
}
v.parentNode.removeChild(v);
} else if (v.readyState == 0) {
window.setTimeout(checkVideo, 249);
}
},
checkVideoRendered = function() {
if (v.networkState == 1 && v.readyState == 4) {
v.style.position = op;
v.style.left = ol;
v.style.right = or;
for (var i = 0; i < fe.length; i++) {
fe[i].parentNode.removeChild(fe[i]);
}
} else {
window.setTimeout(checkVideoRendered, 249);
}
}
if (navigator.userAgent.indexOf('iPad') == -1 && navigator.userAgent.indexOf('iPhone') == -1 && navigator.userAgent.indexOf('iPod') == -1) {
window.setTimeout(checkVideo, 249);
}
})('v_8ba6b0b3a6584f1ea97e0070e9a9a2b8');
当APD光电传感器入射光能量增强到一定程度的时候，示波器AC模式测量TIA输出，下图蓝色区域的基线会随着入射光能量的增加而抬高。
降低入射光能量，基线也会有所下降，入射光能量不变，基线不变动。入射光为5微秒脉宽，每秒1000个脉冲的标准高斯脉冲光，如下图
当入射光强度（Intensity参数）调整到0dBto-16dB的范围时，基线会明显变动，光信号强，基线抬高，光信号弱则基线降低。当光号降低到-16dB以下时，基线就基本不会变动了。
向TI的大牛请教，以上基线变动的原因是什么？如何改善这个问题在较大信号下，让基线不变动
Amy Luo：
您好，
运放输出就是等于输入乘以增益，然后加上同向输入端的直流偏置，运放输出基线变动，应该是输入信号含有的直流分量变化了。为了去掉这个直流成分，OPA656运放输出您可以采用交流耦合输出。
另外也请检查下是否由运放同向输入端的直流偏置跳动造成的。
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Amy,
您好，
非常感谢您的回复，以上理论上很对，但是我这边还是有一个疑问，我检查过上图656同向端的分压偏置，2.5V的直流偏压示波器测量是稳定的没有浮动。但是我是用示波器的AC交流档位测的656输出，应该测量的结果把656输出的直流浮动成分给过滤掉了吧？这种情况下怎么还会有上图所示的基线变动呢？
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Amy Luo：
那您说的这个基线具体是什么基线？如果AC耦合输出，那么应该没有直流成分，如果还存在“基线变动”，那么应该是变动的低频成分? 您减小输出耦合电容值，可以滤去更多的低频成分。
