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遇到F28035晶振不起振问题

设计的第二款板子,同样的28035,同样的晶振电路,实测5片中,3片28035外部晶振都无法工作,现象与之前相同。这5片28035来自两个不同的供应商,同时出问题的概率很低,可能会是什么原因呢?

软件是BL+APP架构,在BL中使用IntOsc1作为主时钟,工作一切正常。APP中使用10M的外部XTAL作为晶振。如果APP也使用IntOsc1作为主时钟,工作一切正常。

还有个疑问:IntOsc1和IntOsc2有没有什么差别?如果功能相同,为什么要设计两个而不是保留一个?其它的MCU内置振荡器都是一个。28035设计两个内置振荡器目的是什

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刚刚设计的28035控制板,晶振使用5032 10M无源晶振,参数SMD-5032_2P 10MHz 20pf 30ppm,两只负载电容都使用22p。
实际打样测试5片,发现有一片晶振不起振,示波器测试晶振两端对地波形间歇600ms左右输出几十ms的10M时钟,复位28035晶振两端能测试到稳定的10M时钟。
测试异常板子晶振两端阻抗及对地阻抗,和正常板子没有明显差异。异常的板子和正常板子功耗也没有明显差异。
依次更换两只22p负载电容、无源晶振,问题依旧,最后更换28035以后恢复正常。
28035购买渠道应该没有问题,如果5片中有1片会遇到晶振不起振问题,量产是完全无法接受的,造成这个问题可能的原因是什么呢?

K Mr:看下是否是芯片某些引脚存在氧化情况

设计的第二款板子,同样的28035,同样的晶振电路,实测5片中,3片28035外部晶振都无法工作,现象与之前相同。这5片28035来自两个不同的供应商,同时出问题的概率很低,可能会是什么原因呢?

软件是BL+APP架构,在BL中使用IntOsc1作为主时钟,工作一切正常。APP中使用10M的外部XTAL作为晶振。如果APP也使用IntOsc1作为主时钟,工作一切正常。

还有个疑问:IntOsc1和IntOsc2有没有什么差别?如果功能相同,为什么要设计两个而不是保留一个?其它的MCU内置振荡器都是一个。28035设计两个内置振荡器目的是什

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刚刚设计的28035控制板,晶振使用5032 10M无源晶振,参数SMD-5032_2P 10MHz 20pf 30ppm,两只负载电容都使用22p。
实际打样测试5片,发现有一片晶振不起振,示波器测试晶振两端对地波形间歇600ms左右输出几十ms的10M时钟,复位28035晶振两端能测试到稳定的10M时钟。
测试异常板子晶振两端阻抗及对地阻抗,和正常板子没有明显差异。异常的板子和正常板子功耗也没有明显差异。
依次更换两只22p负载电容、无源晶振,问题依旧,最后更换28035以后恢复正常。
28035购买渠道应该没有问题,如果5片中有1片会遇到晶振不起振问题,量产是完全无法接受的,造成这个问题可能的原因是什么呢?

Green Deng:建议在不接外部电路的情况下,先焊接晶振部分电路,只连接电源进行测试。看看晶振输出是否正常。这样可以先排除一下晶振问题

设计的第二款板子,同样的28035,同样的晶振电路,实测5片中,3片28035外部晶振都无法工作,现象与之前相同。这5片28035来自两个不同的供应商,同时出问题的概率很低,可能会是什么原因呢?

软件是BL+APP架构,在BL中使用IntOsc1作为主时钟,工作一切正常。APP中使用10M的外部XTAL作为晶振。如果APP也使用IntOsc1作为主时钟,工作一切正常。

还有个疑问:IntOsc1和IntOsc2有没有什么差别?如果功能相同,为什么要设计两个而不是保留一个?其它的MCU内置振荡器都是一个。28035设计两个内置振荡器目的是什

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刚刚设计的28035控制板,晶振使用5032 10M无源晶振,参数SMD-5032_2P 10MHz 20pf 30ppm,两只负载电容都使用22p。
实际打样测试5片,发现有一片晶振不起振,示波器测试晶振两端对地波形间歇600ms左右输出几十ms的10M时钟,复位28035晶振两端能测试到稳定的10M时钟。
测试异常板子晶振两端阻抗及对地阻抗,和正常板子没有明显差异。异常的板子和正常板子功耗也没有明显差异。
依次更换两只22p负载电容、无源晶振,问题依旧,最后更换28035以后恢复正常。
28035购买渠道应该没有问题,如果5片中有1片会遇到晶振不起振问题,量产是完全无法接受的,造成这个问题可能的原因是什么呢?

Xiao Dong:

回复 K Mr:

排除此种可能了,晶振到芯片管脚用万用表测试连接良好。

设计的第二款板子,同样的28035,同样的晶振电路,实测5片中,3片28035外部晶振都无法工作,现象与之前相同。这5片28035来自两个不同的供应商,同时出问题的概率很低,可能会是什么原因呢?

软件是BL+APP架构,在BL中使用IntOsc1作为主时钟,工作一切正常。APP中使用10M的外部XTAL作为晶振。如果APP也使用IntOsc1作为主时钟,工作一切正常。

还有个疑问:IntOsc1和IntOsc2有没有什么差别?如果功能相同,为什么要设计两个而不是保留一个?其它的MCU内置振荡器都是一个。28035设计两个内置振荡器目的是什

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刚刚设计的28035控制板,晶振使用5032 10M无源晶振,参数SMD-5032_2P 10MHz 20pf 30ppm,两只负载电容都使用22p。
实际打样测试5片,发现有一片晶振不起振,示波器测试晶振两端对地波形间歇600ms左右输出几十ms的10M时钟,复位28035晶振两端能测试到稳定的10M时钟。
测试异常板子晶振两端阻抗及对地阻抗,和正常板子没有明显差异。异常的板子和正常板子功耗也没有明显差异。
依次更换两只22p负载电容、无源晶振,问题依旧,最后更换28035以后恢复正常。
28035购买渠道应该没有问题,如果5片中有1片会遇到晶振不起振问题,量产是完全无法接受的,造成这个问题可能的原因是什么呢?

Xiao Dong:

回复 Green Deng:

晶振问题可以排除,和另外一块正常的板子交换晶振,问题依旧。最后更换一片28035以后问题解决。问题在28035。

设计的第二款板子,同样的28035,同样的晶振电路,实测5片中,3片28035外部晶振都无法工作,现象与之前相同。这5片28035来自两个不同的供应商,同时出问题的概率很低,可能会是什么原因呢?

软件是BL+APP架构,在BL中使用IntOsc1作为主时钟,工作一切正常。APP中使用10M的外部XTAL作为晶振。如果APP也使用IntOsc1作为主时钟,工作一切正常。

还有个疑问:IntOsc1和IntOsc2有没有什么差别?如果功能相同,为什么要设计两个而不是保留一个?其它的MCU内置振荡器都是一个。28035设计两个内置振荡器目的是什

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刚刚设计的28035控制板,晶振使用5032 10M无源晶振,参数SMD-5032_2P 10MHz 20pf 30ppm,两只负载电容都使用22p。
实际打样测试5片,发现有一片晶振不起振,示波器测试晶振两端对地波形间歇600ms左右输出几十ms的10M时钟,复位28035晶振两端能测试到稳定的10M时钟。
测试异常板子晶振两端阻抗及对地阻抗,和正常板子没有明显差异。异常的板子和正常板子功耗也没有明显差异。
依次更换两只22p负载电容、无源晶振,问题依旧,最后更换28035以后恢复正常。
28035购买渠道应该没有问题,如果5片中有1片会遇到晶振不起振问题,量产是完全无法接受的,造成这个问题可能的原因是什么呢?

mangui zhang:这个不好判断如果焊接更多块只有这一块有问题那也是正常现象
如果出现多块就需要查找问题了晶体两端焊接个10M电阻试试呢

设计的第二款板子,同样的28035,同样的晶振电路,实测5片中,3片28035外部晶振都无法工作,现象与之前相同。这5片28035来自两个不同的供应商,同时出问题的概率很低,可能会是什么原因呢?

软件是BL+APP架构,在BL中使用IntOsc1作为主时钟,工作一切正常。APP中使用10M的外部XTAL作为晶振。如果APP也使用IntOsc1作为主时钟,工作一切正常。

还有个疑问:IntOsc1和IntOsc2有没有什么差别?如果功能相同,为什么要设计两个而不是保留一个?其它的MCU内置振荡器都是一个。28035设计两个内置振荡器目的是什

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刚刚设计的28035控制板,晶振使用5032 10M无源晶振,参数SMD-5032_2P 10MHz 20pf 30ppm,两只负载电容都使用22p。
实际打样测试5片,发现有一片晶振不起振,示波器测试晶振两端对地波形间歇600ms左右输出几十ms的10M时钟,复位28035晶振两端能测试到稳定的10M时钟。
测试异常板子晶振两端阻抗及对地阻抗,和正常板子没有明显差异。异常的板子和正常板子功耗也没有明显差异。
依次更换两只22p负载电容、无源晶振,问题依旧,最后更换28035以后恢复正常。
28035购买渠道应该没有问题,如果5片中有1片会遇到晶振不起振问题,量产是完全无法接受的,造成这个问题可能的原因是什么呢?

Xiao Dong:

回复 Green Deng:

实际是2脚无源的晶振,不接28035无法工作。

设计的第二款板子,同样的28035,同样的晶振电路,实测5片中,3片28035外部晶振都无法工作,现象与之前相同。这5片28035来自两个不同的供应商,同时出问题的概率很低,可能会是什么原因呢?

软件是BL+APP架构,在BL中使用IntOsc1作为主时钟,工作一切正常。APP中使用10M的外部XTAL作为晶振。如果APP也使用IntOsc1作为主时钟,工作一切正常。

还有个疑问:IntOsc1和IntOsc2有没有什么差别?如果功能相同,为什么要设计两个而不是保留一个?其它的MCU内置振荡器都是一个。28035设计两个内置振荡器目的是什

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刚刚设计的28035控制板,晶振使用5032 10M无源晶振,参数SMD-5032_2P 10MHz 20pf 30ppm,两只负载电容都使用22p。
实际打样测试5片,发现有一片晶振不起振,示波器测试晶振两端对地波形间歇600ms左右输出几十ms的10M时钟,复位28035晶振两端能测试到稳定的10M时钟。
测试异常板子晶振两端阻抗及对地阻抗,和正常板子没有明显差异。异常的板子和正常板子功耗也没有明显差异。
依次更换两只22p负载电容、无源晶振,问题依旧,最后更换28035以后恢复正常。
28035购买渠道应该没有问题,如果5片中有1片会遇到晶振不起振问题,量产是完全无法接受的,造成这个问题可能的原因是什么呢?

Xiao Dong:问题以解决,是固件库的问题。28035的时钟设计相比Cortex M系列太原始了。至于时钟切换,根本没有提及。

设计的第二款板子,同样的28035,同样的晶振电路,实测5片中,3片28035外部晶振都无法工作,现象与之前相同。这5片28035来自两个不同的供应商,同时出问题的概率很低,可能会是什么原因呢?

软件是BL+APP架构,在BL中使用IntOsc1作为主时钟,工作一切正常。APP中使用10M的外部XTAL作为晶振。如果APP也使用IntOsc1作为主时钟,工作一切正常。

还有个疑问:IntOsc1和IntOsc2有没有什么差别?如果功能相同,为什么要设计两个而不是保留一个?其它的MCU内置振荡器都是一个。28035设计两个内置振荡器目的是什

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刚刚设计的28035控制板,晶振使用5032 10M无源晶振,参数SMD-5032_2P 10MHz 20pf 30ppm,两只负载电容都使用22p。
实际打样测试5片,发现有一片晶振不起振,示波器测试晶振两端对地波形间歇600ms左右输出几十ms的10M时钟,复位28035晶振两端能测试到稳定的10M时钟。
测试异常板子晶振两端阻抗及对地阻抗,和正常板子没有明显差异。异常的板子和正常板子功耗也没有明显差异。
依次更换两只22p负载电容、无源晶振,问题依旧,最后更换28035以后恢复正常。
28035购买渠道应该没有问题,如果5片中有1片会遇到晶振不起振问题,量产是完全无法接受的,造成这个问题可能的原因是什么呢?

mangui zhang:

回复 Xiao Dong:

可能只在手册里面体现了

设计的第二款板子,同样的28035,同样的晶振电路,实测5片中,3片28035外部晶振都无法工作,现象与之前相同。这5片28035来自两个不同的供应商,同时出问题的概率很低,可能会是什么原因呢?

软件是BL+APP架构,在BL中使用IntOsc1作为主时钟,工作一切正常。APP中使用10M的外部XTAL作为晶振。如果APP也使用IntOsc1作为主时钟,工作一切正常。

还有个疑问:IntOsc1和IntOsc2有没有什么差别?如果功能相同,为什么要设计两个而不是保留一个?其它的MCU内置振荡器都是一个。28035设计两个内置振荡器目的是什

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刚刚设计的28035控制板,晶振使用5032 10M无源晶振,参数SMD-5032_2P 10MHz 20pf 30ppm,两只负载电容都使用22p。
实际打样测试5片,发现有一片晶振不起振,示波器测试晶振两端对地波形间歇600ms左右输出几十ms的10M时钟,复位28035晶振两端能测试到稳定的10M时钟。
测试异常板子晶振两端阻抗及对地阻抗,和正常板子没有明显差异。异常的板子和正常板子功耗也没有明显差异。
依次更换两只22p负载电容、无源晶振,问题依旧,最后更换28035以后恢复正常。
28035购买渠道应该没有问题,如果5片中有1片会遇到晶振不起振问题,量产是完全无法接受的,造成这个问题可能的原因是什么呢?

Xiao Dong:

回复 mangui zhang:

手册里没有体现。

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