UCC12050: EMI测试

您好！

我们正在设计有个便携式设备，该设备需要通过CISPR 32 class B辐射发射测试。该设备采用了UCC12050进行电源隔离，在测试中出现EMI超标现象。

未用UCC12050进行隔离时，设备测试结果如下：

采用UCC12050进行隔离时，设备测试结果如下：

请问下，有什么方法可以减小该辐射发射。

Johnsin Tao：

HI

    这个芯片本身就是低EMI设计，取决于芯片内部。

    对于外部，你可以在输入输出都增加磁珠构成CLC, 应该可以进一步降低。