F28335的ECAP问题

我是用F28335的芯片，想使用ECAP来测试一个波形的周期性及占空比，把ECAP配置为4个mode的边沿检测

模式，上升沿、下降沿、上升沿、下降沿。

初始化如下：

void InitECap(void)

{

// Initialize eCAP1

ECap1Regs.ECEINT.all = 0x0000; // Disable all capture

interrupts

ECap1Regs.ECCLR.all = 0xFFFF; // Clear all CAP interrupt

flags

ECap1Regs.ECCTL2.bit.TSCTRSTOP = 0; // Make sure the counter is

stopped

// Configure peripheral registers

ECap1Regs.ECCTL2.bit.STOP_WRAP = 3; // Stop at 4 events

ECap1Regs.ECCTL1.bit.CAP1POL = 0; // Rising edge

ECap1Regs.ECCTL1.bit.CAP2POL = 1; // Rising edge

ECap1Regs.ECCTL1.bit.CAP3POL = 0; // Rising edge

ECap1Regs.ECCTL1.bit.CAP4POL = 1; // Rising edge

ECap1Regs.ECCTL1.bit.CTRRST1 = 0; // ABS operation

ECap1Regs.ECCTL1.bit.CTRRST2 = 0; // ABS operation

ECap1Regs.ECCTL1.bit.CTRRST3 = 0; // ABS operation

ECap1Regs.ECCTL1.bit.CTRRST4 = 1; // ABS operation

ECap1Regs.ECCTL2.bit.CONT_ONESHT = 0; // Continuous

ECap1Regs.ECCTL2.bit.SYNCI_EN = 0; // Disable sync in

ECap1Regs.ECCTL2.bit.SYNCO_SEL = 2; // Pass through

ECap1Regs.ECCTL2.bit.CAP_APWM = 0; //eCap Mode

ECap1Regs.ECCTL2.bit.TSCTRSTOP = 1; // Start Counter

ECap1Regs.ECCTL1.bit.CAPLDEN = 1; // Enable CAP1-CAP4 register

loads

ECap1Regs.ECEINT.bit.CEVT1 = 1; // 1 events = interrupt

ECap1Regs.ECEINT.bit.CEVT2 = 1; // 2 events = interrupt

ECap1Regs.ECEINT.bit.CEVT3 = 1; // 3 events = interrupt

ECap1Regs.ECEINT.bit.CEVT4 = 1; // 4 events = interrupt

}

但是通过检测，捕获期间会有连续一样的计数值，而且是频繁出现。

如附件图片的34到36中的数值

希望论坛里面高手指点一下？

谢谢。

(image001.jpg)

10#：

我猜测你应该是在CCS调试环境下使用实时模式观测的值，这里有一个问题：你的信号实际频率和CCS刷新的频率之间的关系？

默认情况下CCS是每100ms更新一次的，当然你也可以自己设置，所以你可以检查一下是否有这方面的原因。

另一个建议的测试方法是，将寄存器里的结果保存到一个大的buffer里面，通过CCS的graph显示出来，或者通过通讯的方式传输或者打印出来验证一下。