TI中文支持网Part Number:TMS570LS3137
PBIST可以进行内存自检，但是会清空内存数据，只能在上电时使用，我想知道有没有方法可以进行周期内存自检？
Susan Yang：
PBIST是对SRAM的自检，用于检测SRAM中的潜在故障。潜在故障检测不需要连续执行机制。它需要定期执行（对于始终开启的应用程序），或者在单个潜在的容错时间间隔（L-FTTI）内执行一次。
用于所有SRAM访问的ECC检查机制是“在线”安全机制，用于检查每个单个SRAM访问。
在TMS570LS3137上，所有外围存储器都对所有访问进行奇偶校验错误检查。这些奇偶校验错误信号通常映射到错误信令模块组1，因此应用程序必须管理对这些错误的处理 (interrupt / nERROR).
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peng liu：
你好，我们的程序有以下两点要求：
一、需要以100ms为周期进行内存自检（检验所有的内存），但不需要纠正错误。有错误发生后直接宕机。
二、不能使用ECC或奇偶校验算法，因为它们的覆盖率不够高，当发生三BIT或四BIT同时出错后可能不会检出错误。
请问PBIST能否满足上述需求，或是我应该怎样设计自检程序来满足上述需求？
另外，在实际测试中发现PBIST检测运行后并不会覆盖掉寄存器中的内容，与datasheet中的说明不符，下图是我进行测试的程序，请问这是为什么？
另外，PBIST是不是只能检测外设寄存器使用的内存，而不能检测用户使用的内存？
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Susan Yang：
抱歉，之前漏掉了您的回复。请问您现在问题解决了没有？我目前手边没有该款芯片的开发板，所以不太好测试PBIST
对于PBIST，您可以看一下
https://www.ti.com/lit/an/spna128c/spna128c.pdf
The on-chip memories of TMS570LS21x and TMS570LS31x series microcontrollers are classified into twenty-eight different ROM/RAM groups for the PBIST test, including two ROM groups (STC/PBIST ROM) and twenty-six RAM groups.
以及 2 When Should PBIST Be Run?
The PBIST test is designed to test the integrity of the embedded RAMs and ROMs and it is destructive to the data stored in the target RAM. The PBIST test can be treated as:
• Proof testing: Hardware PBIST engine executes multiple algorithms targeted to SRAM physical topology on startup. This method is recognized to provide 99% diagnostic coverage (DC) based on TI proven-in-use manufacturing data.
• Online/diagnostic testing (optional): Periodic PBIST can be executed in slices, but is destructive to contents. After test completes, the application code has to re-initialize the target RAM. A reset is not required, but that is the simplest solution that has been chosen to use for this example.
