CC2640R2F连接异常导致BLE无法正常工作

 开发环境：CCS  Version: 9.0.1.00004 。SDK：simplelink_cc2640r2_sdk_3_20_00_21。示例程序：ble5_simple_peripheral_cc2640r2lp_app

描述：基于官方例程ble5_simple_peripheral_cc2640r2lp_app未做任何改动。使用手机APP连接目标从机，整个过程不断电不重启，反复进行连接断开再连接再断开的操作，大概60次会出现死机现象，准确的说应该是蓝牙协议栈不工作，导致设备不能继续广播，从而无法再连接此设备，此时只能通过复位上电才能再次广播。

关于这点有如下猜想：是不是BLE协议栈在工作的过程中申请动态内存后未释放完全，导致累积到一定次数后剩余空间不足，导致BLE协议栈停止工作？因为我们进行过测试，在我们自己的程序上大概只能连接30次，通过修改程序后使剩余资源变大连接次数明显可以提升。现在想请你们对此现象做个测试评估，感谢支持。

Viki Shi：

1、建议在新版的SDK上进行测试
2、“反复进行连接断开再连接再断开的操作” 是主机断开从机还是从机主动断开？
3、死机具体的现象是什么？仅RF死机还是全部都不工作?

babober：

回复 Viki Shi:

我们的工程程序是在3.2版本进行的，后续尝试更新SDK试试
断开连接是手机APP端主动断开，芯片做得是从机，正常的断开在从机端都能收到相应的事件：GAP_LINK_TERMINATED_EVENT。
死机应该只是RF死机，我们的工程代码串口仍然可以工作，读写flash也没得异常，就仅仅是芯片不能广播、不能被连接了。
刚刚从别的渠道获得消息，可能是由于此版本的SDK存在问题，正在测试新版本的SDK

Viki Shi：

回复 babober:

好的，等待你的反馈

babober：

回复 Viki Shi:

目前测试出100+的连接断开次数，暂时未出现此现象，但是基于此问题，既然存在RAM未被释放完全的现象，我们觉得100+的次数也可能不稳定，目前纯手工测试费时费力，有没有类似的测试脚本可供使用呢？

Viki Shi：

回复 babober:

据我所知，没有此类脚本