现在用ADS1247,80sps采样率下,AD值变化有低14位;20sps采样率下,AD值变化低8位;这是24位AD,难道
不能用80sps或者更高的采样率获得比较稳定的AD值吗?电路是AIN0是一个0~0.6V的直流信号,AIN1接地,用
吉时利的7位半的万用表测量信号只有变化几uv,应该不会有低14位AD值变化。
用8422的输出接到ADS1247的输入采样,这样接法测出来的AD值波动有14位,电源和输入信号都用高精度万用
表测试只有几uv的波动
8422输出阻抗应该比较低了,请教一下用过AD1247的大神们帮忙找找原因,非常感谢了!!!!
后期就不采样模拟引脚的信号,而是配置MUX1为0x36,采样内部的(AVDD – AVSS)/4, AD值波动也比较,获得的AD值用MATLAB中的FFT分析,波动的频率是42HZ。难道是AD1247的供电不稳定吗,我用高精度万用表测了AVDD是2.5v,AVSS是-2.5v。
请教各位大佬,帮忙找一下问题,
Jack Li:
理论上讲,内部PGA越大,噪声越大,AD值变化的位数越多:采样速率越大,噪声越大,AD值变化的位数越多。
你把原理图贴上来看看。
shanming shu:
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Jack Li:
回复 shanming shu:
建议:
1.Pin7 (VREFOUT)的退耦电容加大到47uF+1uF, 目前原理为10uF+0.1uF。 规格书第6页有说明。
2.Pin 11,Pin 12 不用的模拟输入通道,都接地处理。
Jack Li:
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如还不正常,建议按下面的步骤debug.
1.现在电路是+/-2.5V 双电源供电,把AIN10, AIN1 (pin 9, pin10) 都接到AGND。然后设置你工程用需要的PGA大小,采样速率开始采集数据,如PGA=8, Data rate = 20SPS,那ADC输出的数据应该可以得到17.9 noise-free-bit ( 即 低6位是变化的)。规格书第22页, table 4 有说明。 如果你采样的实际数据,其Noise-free-bit 远低于17.x , 你需要检查一下你的PCB Layout了。
Jack Li:
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2.如STEP 1, 你实际数据的 noise-free- bit 跟规格书的数据很接近,但当你采样0-0.6V 的模拟通道输入电压,发现数据波动大。你就要检查输入电压是否在ADS1247的共模电压范围内? 这跟PGA/ Vref 有关。规格书第27页,9.3.2.1 PGA Common-Mode voltage Requirements。
Jack Li:
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最好,检验一下你SPI 时序是否对?让MCU写入某个寄存器, 然后多读几次,看看是否正确。以前我们客户,出现过这样的故事: 开机时配置多对,而且第一次读写都没问题。但接下来数据都错了,我们用逻辑分析仪监控SPI时序才发现的。但是大家已浪费了半天时间了。
Jack Li:
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good luck!
shanming shu:
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PIN9,PIN10,PIN11,PIN12都接到AGND,pin7加大了电容,测出来的AD值在FFFFFFAD~000000CD之间变化
shanming shu:
回复 Jack Li:
我用的PGA为1,Vref为2.048V,内部基准,输入的电压0~0.8V,这个共模电压范围不是很明白,你帮忙算一下输入电压符合共模电压范围吗
shanming shu:
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读了1247的内部寄存器,都没有问题,可以多次读。