TI中文支持网在拔插电池采样线的过程中出现芯片损坏，典型的损坏如下，VC0和VC1，VC5B和VC6，VC10B和VC11其中任意一组会损坏短路
user4988659：
TI没有人能解答这个问题吗
user4988659：
user4767665：
回复 user4988659:
目前也遇到类似的问题，也是上述Pin一直有Damage，概率还不低，不知道Ti有什么方法应对此问题
user4988659：
回复 user4767665:
已经出现好多次了，都是VC0和VC1，VC5B和VC6，VC10B和VC11之间短路
user4767665：
回复 user4988659:
Ti回复说是要按低高压顺序连接到电池上，问题是在一个连接器上，没人能保证啊，有改进避免的方式吗您那边，一直坏也不是事啊
user4988659：
回复 user4767665:
有没有可能跟BQ芯片内部的PIN脚结构有关系
user3927583：
采集管脚前端电路是什么样子的呢，有没有保险丝，采样电阻等电路呢
user4767665：
回复 user3927583:
只有一个RC吸收，而且还是接的差摸电容，应该接成共模的，那样效果还耗电
现在Cost是个问题啊，应该都没加
