TI中文支持网各专家好：
我司用BQ77PL900DL做10串的电池方案中，发现在生产焊接Cell检测点时损坏，用万用表测量VCn到VCn+1阻值变小约1K，而正常的是12M以上的。请问大家是否有遇到类似问题，又是怎样解决的。
daw y：
1、损坏的比例是多少？
2、焊接过程中，静电问题是如何解决的？
Joue：
回复 daw y:
损坏5%左右，生产线所有电烙铁都有接地的，员工也带上防静电手带的，应可以排除静电问题。后来将焊接检测点分开多工位操作，没有出现类似问题了，也有可能是焊接时顺序出错，也有可能之前的IC 本身质量有问题。
请问贵公司也出现类似问题吗
daw y：
回复 Joue:
没有出现这种问题，如你所说，焊接监测分开后问题消失，那应该还是工艺的问题造成的。
user4235757：
你好，我现在也遇到这样的问题了，制作480个，测试都坏了40个，都是 VC1-VC4,低6-10节电池检测端短路，要么就是几百R的阻抗。我就很奇怪了，为什么偏偏坏在这儿，我们测试的是使用一个11PIN 线模拟10串电池电压，上电的，而且都是先插负极端。 我现在严重的怀疑是这个IC自身质量有问题。因为新型的BQ76930,BQ76940 我们都没有遇到这种情况，偏偏这种，一上电，就坏那么多，静电..操作啊，我觉得都不是主要问题。请问你后面怎么解决的。
Hugo Zhang：
回复 user4235757:
BQ77PL900是非常老的物料，不推荐新项目使用。目前主推BQ76930。
