TI中文支持网我使用单片机连接ADS1256，采样率300kS/s，在PGA=1时，获得采样值曲线正常，可是将ADS1256内部PGA设置为64时（已经下发了自校准指令F0），采样值曲线却随机的出现一些大概500uV～1mV的脉冲尖峰。请专家们分析分析，我的问题出在什么地方？谢谢～
jin diao：
写错了，采样率是30k。我还发现，当降低采样率时，AD内部的数字滤波能够把这个尖峰滤的更小些，但是还是不明白是什么原因造成的。
Robin Feng：
此尖峰是否随着增益的变化而变化？输入信号来源特性是什么？请考虑是否有噪声被放大的情况。
jin diao：
回复 Robin Feng:
经过反复试验，这个尖峰仅仅出现在PGA=32和64的时候，向上突出的尖和向下突出的尖差值（峰峰值）居然是一样的，只是OFFSET有点偏差。我并未接入特殊测试信号，只是用一颗电阻（20k）将AIN接地。让我感到不解的是，PGA=16非常正常，可是到32和64，尖峰就突然出现。
Robin Feng：
回复 jin diao:
是自己的板子么？buffer打开还是关闭？是否有Calibration？建议加实际信号看下。采样率越高有效位数越低是delta-sigma ADC的特性.另外你要参考手册12页的Input Referred Noise with Buffer On
jin diao：
回复 Robin Feng:
是自己的板子。buffer打开，每一次修改设置都有self-calibration。刚才加入了100mVDC的信号，同样会时不时出现这个1mV的尖叠加在100mVDC上，和不加信号时一样。刚才去看了一下手册12页，这个尖还是超出指标了。回过头来想，这个尖出现频率不高，不是杂散的噪声，连续采样1秒，30k数据里面，能有8～10这样的异常值。
开始我怀疑是通讯异常造成数据错误，后来发现降低采样率之后，这个尖幅度变小，规律和AD内部的数字滤波刚好对应上，所以才认为是AD内部和模拟输入前端的问题。
