DS90UB953写寄存器出错，在写间接寄存器产生test pattern时

根据datasheet，向0xB0,0xB1,0xB2三个寄存器通过i2c进行读写，来产生test pattern；但是，在向IND_ACC_ADDR （0xB1）写入数据0x01成功之后，芯片就无法对任何寄存器进行读写了，重新上电（使用pin PDB）后才能重新对寄存器读写。同样的IND_ACC_ADDR （0xB1）写入数据0x02之后就不影响其他寄存器的读写。请问这是什么原因

Amy Luo：

您好，

请问您的问题解决了没有，您可以参考E2E论坛网友的情况，看下是不是同样的原因造成的：e2e.ti.com/…/3051486