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关于电机驱动器的功率器件使用问题:SiC(碳化硅)替代MOSFET方案是否可行

驱动器要求:24V供电,最大电流在60A。

初选TI的NexFET:CSD18540Q5B(60V,1.8毫欧姆)现对手册中有些参数不太了解,不知道该器件是否能满足使用要求。

1.这里Id有三个参数:封装限制:100A;25度硅材料限制:221A;第三个参数28A是什么概念?选型时是按照三个参数最小值选型??

2.1.8毫欧是在25度下的,实际使用中电流比较大,温度也比较高,这样通态电阻肯定要变大,功耗大,发热也会更严重。在MOSFET选型时如何兼顾这个考虑?

3.基于MOSFET的温度温度稳定性比较差问题,碳化硅器件可以很好的弥补。SiC器件可以在较宽的温度范围内维持较小的通态电阻,但目前SiC器件一般都是在高压段使用(300、600、1200V)。感觉SiC器件主要是解决IGBT功耗大、开关速度慢问题,是针对高压场合使用IGBT而做的升级。

目前采用SiC方案,对于高压器件工作在24V是否会存在一定得问题,还是MOSFET并联方案好一些。

ming chen3:

如若选择TI的NexFET:CSD18540Q5B工作在24V,60A下会不会有什么问题,是否需要并联?

 

驱动器要求:24V供电,最大电流在60A。

初选TI的NexFET:CSD18540Q5B(60V,1.8毫欧姆)现对手册中有些参数不太了解,不知道该器件是否能满足使用要求。

1.这里Id有三个参数:封装限制:100A;25度硅材料限制:221A;第三个参数28A是什么概念?选型时是按照三个参数最小值选型??

2.1.8毫欧是在25度下的,实际使用中电流比较大,温度也比较高,这样通态电阻肯定要变大,功耗大,发热也会更严重。在MOSFET选型时如何兼顾这个考虑?

3.基于MOSFET的温度温度稳定性比较差问题,碳化硅器件可以很好的弥补。SiC器件可以在较宽的温度范围内维持较小的通态电阻,但目前SiC器件一般都是在高压段使用(300、600、1200V)。感觉SiC器件主要是解决IGBT功耗大、开关速度慢问题,是针对高压场合使用IGBT而做的升级。

目前采用SiC方案,对于高压器件工作在24V是否会存在一定得问题,还是MOSFET并联方案好一些。

ming chen3:

回复 ming chen3:

应该没有什么问题~

驱动器要求:24V供电,最大电流在60A。

初选TI的NexFET:CSD18540Q5B(60V,1.8毫欧姆)现对手册中有些参数不太了解,不知道该器件是否能满足使用要求。

1.这里Id有三个参数:封装限制:100A;25度硅材料限制:221A;第三个参数28A是什么概念?选型时是按照三个参数最小值选型??

2.1.8毫欧是在25度下的,实际使用中电流比较大,温度也比较高,这样通态电阻肯定要变大,功耗大,发热也会更严重。在MOSFET选型时如何兼顾这个考虑?

3.基于MOSFET的温度温度稳定性比较差问题,碳化硅器件可以很好的弥补。SiC器件可以在较宽的温度范围内维持较小的通态电阻,但目前SiC器件一般都是在高压段使用(300、600、1200V)。感觉SiC器件主要是解决IGBT功耗大、开关速度慢问题,是针对高压场合使用IGBT而做的升级。

目前采用SiC方案,对于高压器件工作在24V是否会存在一定得问题,还是MOSFET并联方案好一些。

囧:

回复 ming chen3:

你可以到其他模拟产品论坛讨论MSOFET相关问题

驱动器要求:24V供电,最大电流在60A。

初选TI的NexFET:CSD18540Q5B(60V,1.8毫欧姆)现对手册中有些参数不太了解,不知道该器件是否能满足使用要求。

1.这里Id有三个参数:封装限制:100A;25度硅材料限制:221A;第三个参数28A是什么概念?选型时是按照三个参数最小值选型??

2.1.8毫欧是在25度下的,实际使用中电流比较大,温度也比较高,这样通态电阻肯定要变大,功耗大,发热也会更严重。在MOSFET选型时如何兼顾这个考虑?

3.基于MOSFET的温度温度稳定性比较差问题,碳化硅器件可以很好的弥补。SiC器件可以在较宽的温度范围内维持较小的通态电阻,但目前SiC器件一般都是在高压段使用(300、600、1200V)。感觉SiC器件主要是解决IGBT功耗大、开关速度慢问题,是针对高压场合使用IGBT而做的升级。

目前采用SiC方案,对于高压器件工作在24V是否会存在一定得问题,还是MOSFET并联方案好一些。

Mickey Zhang:

回复 ming chen3:

Absolute Maximum参数的参考意义不大,建议惨Recommended Operating Conditions下的参数。

驱动器要求:24V供电,最大电流在60A。

初选TI的NexFET:CSD18540Q5B(60V,1.8毫欧姆)现对手册中有些参数不太了解,不知道该器件是否能满足使用要求。

1.这里Id有三个参数:封装限制:100A;25度硅材料限制:221A;第三个参数28A是什么概念?选型时是按照三个参数最小值选型??

2.1.8毫欧是在25度下的,实际使用中电流比较大,温度也比较高,这样通态电阻肯定要变大,功耗大,发热也会更严重。在MOSFET选型时如何兼顾这个考虑?

3.基于MOSFET的温度温度稳定性比较差问题,碳化硅器件可以很好的弥补。SiC器件可以在较宽的温度范围内维持较小的通态电阻,但目前SiC器件一般都是在高压段使用(300、600、1200V)。感觉SiC器件主要是解决IGBT功耗大、开关速度慢问题,是针对高压场合使用IGBT而做的升级。

目前采用SiC方案,对于高压器件工作在24V是否会存在一定得问题,还是MOSFET并联方案好一些。

ming chen3:

回复 Mickey Zhang:

感谢您的回答,CSD18540Q5B    datasheet中没有提到Recommended Operating Conditions参数,只有提到Recommended PCB Pattern~

 

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