The JTAG IR Integrity scan-test has failed是什么问题？

user4800221：

回复 Jason Wu4:

非常感谢您的回答。

我从板子上10pin的口直接引了9根线（有一脚是空的）接到仿真器的14pin上。

连接顺序是对的。剩下的5pin：3个gnd、1个RET_TCK、还有一个空着的6号引脚没有接。

请问这样可以吗？

另外：

①杜邦线长度约20cm，会不会长度太长。

②附带测试信息：

 [Start: Texas Instruments XDS100v2 USB Emulator_0]Execute the command:%ccs_base%/common/uscif/dbgjtag -f %boarddatafile% -rv -o -F inform,logfile=yes -S pathlength -S integrity[Result]—–[Print the board config pathname(s)]————————————C:\Users\aoaoao\AppData\Local\TEXASI~1\CCS\    ti\0\0\BrdDat\testBoard.dat—–[Print the reset-command software log-file]—————————–This utility has selected a 100- or 510-class product.This utility will load the adapter 'jioserdesusb.dll'.The library build date was 'Mar  9 2014'.The library build time was '22:27:48'.The library package version is '5.1.450.0'.The library component version is '35.34.40.0'.The controller does not use a programmable FPGA.The controller has a version number of '4' (0x00000004).The controller has an insertion length of '0' (0x00000000).This utility will attempt to reset the controller.This utility has successfully reset the controller.—–[Print the reset-command hardware log-file]—————————–The scan-path will be reset by toggling the JTAG TRST signal.The controller is the FTDI FT2232 with USB interface.The link from controller to target is direct (without cable).The software is configured for FTDI FT2232 features.The controller cannot monitor the value on the EMU[0] pin.The controller cannot monitor the value on the EMU[1] pin.The controller cannot control the timing on output pins.The controller cannot control the timing on input pins.The scan-path link-delay has been set to exactly '0' (0x0000).—–[The log-file for the JTAG TCLK output generated from the PLL]———-There is no hardware for programming the JTAG TCLK frequency.—–[Measure the source and frequency of the final JTAG TCLKR input]——–There is no hardware for measuring the JTAG TCLK frequency.—–[Perform the standard path-length test on the JTAG IR and DR]———–This path-length test uses blocks of 512 32-bit words.The test for the JTAG IR instruction path-length succeeded.The JTAG IR instruction path-length is 38 bits.The test for the JTAG DR bypass path-length succeeded.The JTAG DR bypass path-length is 1 bits.—–[Perform the Integrity scan-test on the JTAG IR]————————This test will use blocks of 512 32-bit words.This test will be applied just once.Do a test using 0xFFFFFFFF.Scan tests: 1, skipped: 0, failed: 0Do a test using 0x00000000.Scan tests: 2, skipped: 0, failed: 0Do a test using 0xFE03E0E2.Test 3 Word 0: scanned out 0xFE03E0E2 and scanned in 0x1F80F81C.Test 3 Word 1: scanned out 0xFE03E0E2 and scanned in 0x3FC07C1E.Test 3 Word 2: scanned out 0xFE03E0E2 and scanned in 0x0FC07C18.Test 3 Word 3: scanned out 0xFE03E0E2 and scanned in 0x3FC07E07.Test 3 Word 4: scanned out 0xFE03E0E2 and scanned in 0x7F01F078.Test 3 Word 5: scanned out 0xFE03E0E2 and scanned in 0x7F01E0F1.Test 3 Word 6: scanned out 0xFE03E0E2 and scanned in 0x3F807C18.Test 3 Word 7: scanned out 0xFE03E0E2 and scanned in 0x7F01F03C.The details of the first 8 errors have been provided.The utility will now report only the count of failed tests.Scan tests: 3, skipped: 0, failed: 1Do a test using 0x01FC1F1D.Scan tests: 4, skipped: 0, failed: 2Do a test using 0x5533CCAA.Scan tests: 5, skipped: 0, failed: 3Do a test using 0xAACC3355.Scan tests: 6, skipped: 0, failed: 4Some of the values were corrupted – 66.5 percent.The JTAG IR Integrity scan-test has failed.—–[Perform the Integrity scan-test on the JTAG DR]————————This test will use blocks of 512 32-bit words.This test will be applied just once.Do a test using 0xFFFFFFFF.Scan tests: 1, skipped: 0, failed: 0Do a test using 0x00000000.Scan tests: 2, skipped: 0, failed: 0Do a test using 0xFE03E0E2.Scan tests: 3, skipped: 0, failed: 0Do a test using 0x01FC1F1D.Scan tests: 4, skipped: 0, failed: 0Do a test using 0x5533CCAA.Scan tests: 5, skipped: 0, failed: 0Do a test using 0xAACC3355.Scan tests: 6, skipped: 0, failed: 0All of the values were scanned correctly.The JTAG DR Integrity scan-test has succeeded.[End: Texas Instruments XDS100v2 USB Emulator_0]