您好!
我在自己设计的C6657的硬件电路中,发现存在如下异常情况,导致DDR测试不通过,
DDR3 leveling has failed,STATUS = 0x40000064,现在
①可以确保DDR的配置参数已经根据 TI 给出的计算表格,根据硬件的实际设计情况,作出了调整;
②同一批次的产品,存在某些测试未发现异常,某些测试发现异常的情况。
异常发生的时候,发现存在VTT供电电源,0.75V 存在最大20mV的变化量,正常的时候,该值的变化量一般在几个mV。
现在,想要请问下,①VTT供电电源变换是否会导致 DDR 的Leveling 出现time out的异常?②VTT的变化范围在多少之内是允许的?【因为,我发现TI给出的文档上,有一处描述有点对不上,sprabi1c- DDR3 design requirements for Keystone Device,对于电压的稳定性,噪声方面有问题,如下图,±2%, or 1.5mV】
不知道哪位高人,能够指点一下,不胜感激!之前帖子发错地方了,发到 数据转换模块去了……
Shine:
DDR3不稳定的话,主要还是先看一下布线是否严格按照上的要求布的。
user1551483:
回复 Shine:
非常认同你的话,布线不合理,导致信号的完整性不好,会对DDR造成不稳定的情况,但是就这个问题,个人觉得不像是布线不符合要求引起的!