DM8127平台， TI的AE算法，如何动态调整测光统计区域？

正如题目，

应用的8127平台3.8版本的TI——2A算法，其中统计模块的区域能否动态调整？实现区域测光功能，而不是进行整幅图统计。谢谢啦

Chris Meng：

你好，

原始代码没有改功能。原理上统计模块的统计区域是可以调整的，但相应的代码要添加，算法也要改变。

user4697019：

回复 Chris Meng:

谢谢Chris的回复，我们AE统计模块是整幅图进行统计，我们想调整统计区域，我看了统计模块是一个个窗口进行统计，我的想法是这个窗口跟像素位置就能不能对应起来，这样来调整统计区域，是否可行？另外，我想问一下，你说的添加代码，是在哪一块进行修改？