近期调试TMS320F28377D,遇到了一些问题,程序框架采用双核模式,其中CAN通信位于CUP1,ADC采样位于CPU2,整个程序跑RAM时,CAN通信和ADC采样都可以正常工作。但是烧写FLASH后,CAN能正常工作,而在CPU2中的ADC不能进行正常的采样。我把CPU1中的CAN程序注释掉,再次烧写FLASH,ADC可以正常工作。初步判断是在FLASH 运行时,CAN通信的程序和ADC存在冲突。这个问题困扰了好久了。
Shine:
TMS320F28377D 属于C2000系列,有专门的C2000论坛可以咨询。
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