在测试CC1101模块的时候由于没有专用的仪表就使用普通的频谱仪进行测试,用的TRACE键中的MAX hold功能测试时,发现在主载波两侧均会出现幅度较高的杂散发射信号,请问这是什么原因造成的?怎么消除?数据通信正常,通信距离在100米左右,通信速率9.6k
toger:
信道带宽200khz,输出匹配为推荐配置
Albin Zhang:
Toger,
任何发射机都会有杂散:-),只要满足各个国家地区的认证就好。
这个不会影响你的带内通讯。会干扰别人,这就是为什么各个国家地区要做入网认证。
所以,请告知你是否超过了要求呢?
BR. Albin
toger:
回复 Albin Zhang:
非常感谢,远离信道的杂散是符合国标要求的,但邻道杂散有些超标。
Albin Zhang:
回复 toger:
能具体一下地区及参考的文件及条款么?
这里给你些排查建议:
– 降低发射机功率
-选用相噪小些的crystal.
-调整输出-天线匹配。
-排查电源干扰。
BR. Albin
Nutcracker:
回复 Albin Zhang:
除了日本,欧洲和美国的标准测试都是辐射测量的。所以虽然你用频谱仪看有点超,实际测量应该问题不大。你可以问问你的模块供应商。
toger:
回复 Albin Zhang:
非常感谢您的回复,现在基本可以肯定应该不是杂散的问题,而是此时方法存在一些问题,但这些问题仍然没有解决掉,我是通过一个透传模块发送的,数据是通过串口传送,而后通过频谱仪观测信号,单帧发送时没有任何问题(看不到任何类似杂散的信号),但是如果连续发送时(一秒一次)就在主频两侧会出现类似杂散的信号(测试还是通过trace键中的max hold将所有数据保存下来的方式),测量晶体时也能测到每帧数据发送对晶体的周期影响,在数据线上增加滤波电容,没有改善,不知道这主要是什么原因造成的?
toger:
回复 toger:
频谱仪测试图片,请查看!!谢谢!!
toger:
回复 toger:
有没有哪位大侠知道主峰旁边的这些东西是怎么出来的?用TI提供的测试板测试连续发送时,同样会出现类似信号,请问其产生的原因是什么?怎么消除掉?
Nutcracker:
回复 toger:
透传模块里面是MCU+CC1101么?UART 转 SPI?
TI 的测试板都是过了FCC等规范要求的。所以只要你的板子测量结果跟TI的差不多,过规范测试就没有问题。 主峰旁边的东西跟芯片内部的频率合成器对噪声抑制的的性能相关。
toger:
回复 Nutcracker:
对的,模块是用的430+CC1101做的,尝试过用430+TI提供的射频测试版测试,同样会出现上图中的噪声,请问有没有办法消除或者降低这些信号?