你好:
目前我们公司想做CC2530F256芯片量产时的RF参数测试,配合IQnxn来做,工具大概功能是自动去控制CC2530处于各信道TX模式,设置IQnxn处于VSA模式,读取IQnxn的测试结果并进行记录。各信道TX扫描完成后控制IQnxn处于VSG模式,设置IQnxn输出功率及信道,切换CC2530F256处于RX模式,获取CC2530F256丢包率并进行记录,控制IQnxn输出功率由大变小,直至CC2530F256丢包率达不到标准位置。然后将记录结果保存为txt文档格式便于查阅。
请问是否有这样的工具或者demo提供我们进行二次开发,谢谢!
yanbing wu:
回复 Viki Shi:
感谢,我们先尝试开发一下。