使用CCS调试时静态变量出现BAD0，且无法在Expressions中实时更新。

各位好！

   此次使用的芯片是TMS570LS0232，使用HAL Code Generator 配置好后，进行调试。

  程序如下：

static int WatValu;

int main(void)
{
while(1)
{
uint32 i;
if(WatValu)
WatValu = 0;
else WatValu = 1;

for(i=0;i<10000;i++);
}

}

运行后变量显示为BAD0，内存显示上发现各个地址上存放的数据均是BAD0；

在程序中加入断点后暂停时，观测值与内存地址上的值显示正常。

在此之前用过TMS570ls1114和1224的芯片，ram的值在监控界面的示数均可实时更新，出现过Flash中的值为BAD0的情况，通过屏蔽sys_startup.c文件中_coreEnableFlashEcc_（）函数即可恢复正常。但此次TMS570LS0232的测试中，_coreEnableFlashEcc_(void);_coreEnableRamEcc_(void);均被屏蔽，但现象不变。

请问各位，1.TMS570系列显示BAD0的原因是什么？ 如何使能禁能此项功能？

YR ZH：

相近问题，无法找到解决方法：e2echina.ti.com/…/371947