TUSB522P: USB Redriver芯片故障导致USB设备识别异常

项目里的USB用到TUSB522PRGET芯片，但是发现这个芯片偶发会用着用着出现故障。

故障描述：现象一：机器使用过程中发现，当U盘或者其他USB设备插入时，能够检测到USB设备，但是在系统界面下手动退出USB设备

并且拔出USB设备，发现在设备管理器里面设备并没有消失，并且重新插入USB设备后发现设备不能被正常识别。

现象二：由于我们机器需要开机后就自动识别并使用USB设备，发现有问题的Redriver会影响到其他USB设备的正常识别。

故障排除：我们更换掉TUSB522PRGET芯片后上述问题消失，并且将问题芯片重新焊接回板卡，问题能够稳定复现，判断故障与USB redriver

芯片故障强关联。将问题芯片拆下测量11/12/22/23管脚的对地阻抗，正常的芯片有55K左右的阻抗，损坏芯片只有20K左右。结合上述操作判断是

USB Redriver芯片损坏导致的故障。

原理图(下图是USB Redriver电路和USB接口电路)：

问题：这个芯片为什么会损坏，该芯片供电检查过是正常的，设计是否有不合理的地方？能否提供一些技术支持

Daniel：

您好

针对你遇到的TUSB522PRGET芯片损坏问题，根据搜索结果，我们可以从以下几个方面来分析和提供技术支持：

‌芯片损坏的可能原因‌：

‌制造和封装过程中的机械应力‌：芯片在制造、封装、运输或安装过程中可能受到碰撞、跌落或挤压等机械应力作用，导致内部结构受损或断裂。

‌焊接过程的热应力‌：焊接时的高温可能导致芯片内部元器件性能衰退、焊球熔化不均或产生裂纹，进而引发接触不良或短路问题。

‌静电放电（ESD）‌：在处理或装配过程中，人体或工具携带的静电能量释放到芯片上，可能导致敏感元件击穿或氧化层破坏，造成功能失效。

‌过压‌：芯片在异常工作条件下，如电源波动、信号异常或外部环境突变，可能承受超过设计极限的电压，从而导致内部晶体管烧毁或其他元器件损坏。

‌过热‌：长时间过热工作会加速芯片内部材料老化，影响晶体管阈值电压，甚至导致金属互连层迁移、氧化层破裂等问题。

‌设计上的注意事项‌：

‌优化焊接工艺‌：采用适当的焊接温度曲线并优化焊接工艺，降低热冲击对芯片的影响。

‌建立ESD防护体系‌：包括佩戴防静电手环、使用防静电工作台和工具，确保所有接触芯片的操作都在接地良好的环境中进行。

‌增强系统级保护设计‌：加入稳压器、瞬态电压抑制器（TVS）、限流电路等保护元件，以应对可能的过压情况。

‌合理设计散热系统‌：确保芯片工作在安全的工作温度范围内，选择适合工作条件的封装形式，提升散热效率。

‌PCB布局和布线‌：遵循TI的高速布局指南，注意高速信号的布线方式和阻抗控制，减少EMI干扰。

综上所述，针对你遇到的TUSB522PRGET芯片损坏问题，建议从上述几个方面进行检查和优化。同时，也可以考虑增加芯片的冗余设计，以提高系统的可靠性和稳定性。希望这些信息能对你有所帮助。