AFE2256EVM: 开发测试INL指标

1.AFE2256EVM有没有办法测试芯片的INL指标

2.是否可以通过更改源码来生成相应工程来测试INL指标

3.手册中INL指标是某一个环境的结果，是否有其他环境下的测试或仿真结果（不同scan time）

4.该芯片INL指标受哪些配置影响较大（input charge、scan time、LPF、STR、Csensor、CDS Timing、）

Kailyn Chen：

您好，关于您的这个问题，稍后给您回复。

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Kailyn Chen：

您好，我查了下资料，对于您的几个问题，抱歉我这边没有您需要尝试INL指标的方法，已经是否可以通过源码来测试INL。

我的建议是为更加有效地解决您的问题，我们建议您将问题发布在E2E英文技术论坛上：

https://e2e.ti.com/support/data-converters-group/data-converters/f/data-converters-forum

您这边有任何问题，可以讨论。

给您带来不便非常抱歉。

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好的，谢谢

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Kailyn Chen：

不客气，您有任何问题都可以在这里跟进。