LMQ66420: 在快速接头进行上电和掉电热插拔时，被击穿起火花现象

Hi E2E,

LMQ66420R5RXBR是主板的输入级高效12~24V.dc输入转5V.dc输出DCDC。

在快速接头进行上电和掉电热插拔时，LMQ66420R5RXBR的VIN端会被击穿起火花，造成永久不可逆转的物理损坏。

(function(id)
{
var v = document.getElementById(id);var op = v.style.position, ol = v.style.left, or = v.style.right, fe = [];
var nodeLimit = 50;
checkVideo = function() {
if (!v.canPlayType || v.error) {
var bound = 0;
while (v.childNodes.length > 0 && bound < nodeLimit) {
bound++;
if (v.childNodes[0].nodeName != 'SOURCE') {
v.parentNode.insertBefore(v.childNodes[0], v);
}
}
v.parentNode.removeChild(v);
} else if (v.readyState == 0) {
window.setTimeout(checkVideo, 249);
}
},
checkVideoRendered = function() {
if (v.networkState == 1 && v.readyState == 4) {
v.style.position = op;
v.style.left = ol;
v.style.right = or;
for (var i = 0; i < fe.length; i++) {
fe[i].parentNode.removeChild(fe[i]);
}
} else {
window.setTimeout(checkVideoRendered, 249);
}
}
if (navigator.userAgent.indexOf('iPad') == -1 && navigator.userAgent.indexOf('iPhone') == -1 && navigator.userAgent.indexOf('iPod') == -1) {
window.setTimeout(checkVideo, 249);
}
})('v_c32d1000cc93490396ec7e8a417b27aa');

初步原因分析，在热插拔的过程中有接触不良会产生电火花现象，而火花会引起输入电压的波动和脉冲干扰，从而使DCDC的内核电压没有建立时，使内部上下桥臂的MOSFET导通，引起VIN和GND直接导通，出现测试过程中的炸管现象。我们不清楚上述分析是否合理?目前采取的措施是加大了LMQ66420输入端电容，暂时没出现烧坏现象。请问还有其他的改良措施么？只是加大了电容是否还存在风险？

Johnsin Tao：

Hi

    从你上述图片看，是直接在输入连电，相当于热插拔或者说是硬开关，这样是容易造成跳火情况的。一般如果输入是通过插拔导通是需要在输入增加热插拔，或者通过软开关控制（先插拔，后控制输入启动有电输出）。