TI中文支持网Part Number:TAS5722L
关于TAS5722l，我们实践中的一些问题，盼解答
1.我们的测试板目前能力有限，这两个时序指标目前达不成（实际会在168ns，超出很多），会有什么风险，出问题的概率大不大（最终产品不会这样，这个测试板是做测试用的，主要是想知道会有什么影响）
2. 目前测了一下，好像实测的输出会比理论上高出一些，请问这个是为什么
比如当ANALOG_GAIN[1:0]=0x10, 对应23.5dBV
VOLUME_CONTROL[8:1]=0x160
Digital clipper调到最大大使其不生效
算出来实际dBV=23.5+（0x160-0x19E）*0.25=8，对应VPK=3.55v
实测峰值的PWM约24%（PVDD=17V）,等效的VPK大概是4V，反而会高一些
这个只是示意，实际上很多条件下差不多都会高一点，换算成Vpk大概都是0.5V左右
Kailyn Chen：
您好，首先建议按照数据手册中的时序要求，因为如果超过这个时间，可能会导致抖动增加。因为边沿采样时间可能会在略有不同的时间点，这样会导致降低器件的噪声性能。
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Kailyn Chen：
关于第二个问题，我想是不是和负载有关，您使用的多大负载？
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weichang_kong：
您好，我这边采用的负载是4Ω 3.5W的喇叭
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Kailyn Chen：
weichang_kong 说：
这个只是示意，实际上很多条件下差不多都会高一点，换算成Vpk大概都是0.5V左右
我看了下上面的计算也没问题。
我看波形抖动都比较厉害，Vpk要按照均值测试，不是将overshoot的最高点计算进去。
不知道是不是和这里有关。
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weichang_kong：
这个我稍后在问，咨询下此类芯片我们如果要做可靠性测试该怎么测试，比如想高温高湿实验这样，是需要一直喇叭响着来测试的吗
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Kailyn Chen：
您好，我没有找到关于TAS5722 可靠性测试的报告，我再查下资料，尽快给您答复。
我个人的理解是在满足芯片电气参数范围内，是要加上负载进行测试的。否则无法验证高温高湿条件下的功能性。
