TI中文支持网Part Number:AFE4960POther Parts Discussed in Thread:AFE4960
HI 我的原理图设计参考4960pEVM ，生产一板之后测得 TX_SUP 3V IO_SUP 是2.2V 但是IO_SUP供电电压为 1.8V.
Kailyn Chen：
您好，AFE4960是NDA器件，需要自行申请完整数据手册，您这边已经申请到了吗？
我这边暂时没有它的完整数据手册，根据您的描述，IO_SUP 是内部LDO输出电压引脚还是外部供电电压引脚？
看引脚定义应该是IO部分的外部供电，您的意思是外部供电电压和实测不符是吗？
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zhigen xiao：
您好 ！已经有完整数据手册，并且 原理图设计 是根据4960PEVM 4960P外围电路做的原理图！IO_SUP 我接的外部 LDO 给4960P供电，因为要使用 PPG,TX_SUP 提供3V供电，我测量IO_SUP引脚电压应该是 1.8V,实际则为 2V多。
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zhigen xiao：
焊接温度过高 会导致 TX_SUP与IO_SUP击穿这种可能出现吗
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zhigen xiao：
您好 ！已经有完整数据手册，并且 原理图设计 是根据4960PEVM 4960P外围电路做的原理图！IO_SUP 我接的外部 LDO 给4960P供电，因为要使用 PPG,TX_SUP 提供3V供电，我测量IO_SUP引脚电压应该是 1.8V,实际则为 2V多。
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Kailyn Chen：
您好，理解您的意思了，外部给的1.8V供电，实测２V多。
您这里提到了焊接温度过高，那很有可能焊接温度过高产生的过应力对芯片造成变形或者损坏，或者误导通。
您有尝试更换一片试试吗？
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zhigen xiao：
我在datasheet中有看到 If subjected to additional processing steps (for example during PCB assembly or product manufacturing), avoid exposure of the deviceto UV radiation and exposure to high temperatures (350°C and higher).因此怀疑是不是焊接温度 过高造成的影响，因此 想确定一下，触发这个条件之后 IO_SUP与TX_SUP会产生，我现在遇到的现象吗
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Kailyn Chen：
您好，稍后给您答复。
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Kailyn Chen：
您好，我没有查到针对AFE4960实际测试当超过这个条件后带来的具体后果和现象。
但是一般焊接温度是不能超过350+-10度，超过这个温度很有可能造成芯片损坏。
所以我们不论是哪个芯片，都是建议要在电气特性范围内去使用，保证芯片长时间的性能。
