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INA229: Vshunt Gain error测试有问题

Part Number:INA229Other Parts Discussed in Thread:INA228, , INA226

目前我们使用过INA228和INA229,相同的测试条件下,INA228性能很好,完全符合规格书的描述。但是INA229的Vshunt Gain error就很差劲,Vshunt offst的参数很好,Vbus的Gain error和offst也很好。所以希望工程师能帮忙解决一下INA229 Vshunt Gain error测试的相关问题。谢谢~

Han Yan:

 这是我们测试方案的简单图示:在IN+和IN-两端加电压(±163.84mV以内),使用六位半万用表测IN+和IN-两侧的电压,读04h(Vshunt)寄存器的值。如此得到几组数据,使用函数拟合得到一个一次函数,斜率减一即为Vshunt Gain error。目前,我们更换过IN+和IN-两侧的电源,使用过ADC或者电源或者电源分压,结果都不理想。在IN+和IN-输入120mV的情况下,读数的差值接近200uV。

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Amy Luo:

您好,

我稍后看下您的问题

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Amy Luo:

您好,

如下截图所示,增益误差最大0.05%,200uV也就是0.2mV,可算得增益误差是0.2mV/120mV=0.17%,超出了规格很多,确实很大。

您可以附上完整的测试电路吗?INA228和INA229的测试有什么不同吗?它们之间好像是通信接口间的区别。

您测试几块INA229的板子是这种现象?可以多测试几块板子吗?

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Han Yan:

我们INA228和INA229的测试板没有任何不同,我只是改变了通讯端口的接线方便通讯。INA229测试接近十颗,没有一颗可以在规格书范围内的。  IN+和IN-连接的原理图和PCB如图所示(电阻值是我乱写的,我甚至更换过很多种滤波电路或者拆除滤波电路都没有效果),R5电阻有使用过电阻分压方式的稍大一点的电阻,或者直接灌电流方式使用50m ohm的电阻,区别都不是很大。

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Amy Luo:

Amy Luo said:INA228和INA229的测试有什么不同吗?

我想确认的是它们的测试条件相同吗?包括测试信号源、输入端电路、测试工具等

测试时输入共模电压是24V是吗?看下面截图gain error与共模电压关系很大:

另外,可能是物料问题,INA229是从TI store或TI授权代理商处购买的吗?请确认下物料来源

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Han Yan:

测试条件是完全相同的,包括输入信号源,输入端电路和测试使用的七位半/六位半等,我们甚至采购了INA226进行测试都能测得很好的性能。芯片是去年从云汉芯城官方购买的。输入有给24V共模,也有接地测试过,从图来看,接地造成的Gain error误差只有0.075%,不会造成接近0.2%的误差。

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Amy Luo:

INA228和INA229性能应该是一样的

您可以再从TI 官网订购几片 INA229进行测试吗?看下是否为物料问题

从下面链接查,现在云汉芯城不是TI 授权代理商:

TI 授权半导体经销商

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