TI中文支持网Part Number:ADC12DJ3200
linwei hu：
第三张图是数据解析的示意，请问哪里有误？
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Cherry Zhou：
您好，您的问题我们升级到英文论坛看下，有答复尽快给您。
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Cherry Zhou：
您是否正在使用2个 Xilinx JESD IP、每个 IP 有8个信道？在这种情况下，每个 IP 将生成256位的输出。 斜坡测试模式生成八位位组斜坡(8位值)，而不是采样值斜坡(12位值的斜坡)。
建议将 ADC 设置为传输层测试图形模式。者可以让您轻松了解通道数据如何映射到样本，因为帧中的每个样本都有一个恒定的12位值。 此值可在datasheet中的" N 的短传输测试模式= 12模式"表41中找到。
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linwei hu：
您好，我目前使用传输层测试图形模式，采样点的顺序是否按照JMODE1的S0,S1,S2—->S78,S79的顺序？
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Cherry Zhou：
好的我们跟进给工程师看下哈。
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linwei hu：
非常感谢，我们目前使用的时候，有一个问题：下面第一幅图是采样100MHz的正弦波，但是会有锯齿状的，第二幅图是放大后的细节，我们目前不知道是什么原因引起的，
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Cherry Zhou：
‘传输层测试’模式是 ADC 的特殊测试模式。 您试下在此模式下配置 ADC 并生成 S0-S70的结果。 可以帮助我们更好地了解导致问题的原因。
此外还请分享下传输层的 RTL 代码(其中通道数据映射到样本)。
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linwei hu：
上图是我们使用传输层测试模式生成的图像，目前这个模式下没有问题，但是在采样正弦波时，会出现波动的情况，
目前是使用JMODE1, 在FPGA中使用2个IP核，从FPGA的IP核输出的256位数据到样本的映射分为：
jesd204_0_example_design_1 -> out_data[256:0] ->S0,S2,S4…….S76,S78
jesd204_0_example_design_2 -> out_data_2[256:0] ->S1,S3,S5…..S77,S79
目前看来有点问题，请问哪里需要改正，
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Cherry Zhou：
您能再提供下以下信息吗(ADC 处于传输层测试模式)？
1) 256位总线上的确切值(对于两个连续的时钟周期)
2) 用于将256位通道数据映射到采样值的代码。
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linwei hu：
您好，非常感谢您的解答，我们重新阅读了器件手册，发现是之前的一个设置没有做好，目前有了稍微正常的采样，但是还是有问题，可否再次询问一下？
上图是部分采样点，看起来交替起伏，我们估计是采样的校准未做好，目前的校准配置如下：
0:dout<=24'h0000B0; ///***///进行软复位 之后延迟100ms //时钟50MHz 20ns * 5000 = 100 ms 5001: dout<=24'h020000; ///***///清除 JESD_EN (始终在 CAL_EN 之前)5002: dout<=24'h006100; ///***///清除 CAL_EN (始终位于 JESD_EN 之后) 5003:dout<=24'h020101;//jmode5004:dout<=24'h020203;//km5005:dout<=24'h020301; //非零 即使用 软同步5006:dout<=24'h020400; //00 015007:dout<=24'h020500; //设置JTEST
5008:dout<=24'h0030FF; //设置量程5009:dout<=24'h0031FF;5010:dout<=24'h0032FF;5011:dout<=24'h0033FF;
5012:dout<=24'h002920;5013:dout<=24'h002960;
5014:dout<=24'h002970; //////将SYSREF_SEL设置为0，使用SYSREF校准
5015:dout<=24'h02B104; //设置SRC校准参数5016:dout<=24'h02B001; //启用SRC_EN
//5016:dout<=24'h004803; //将串行器预加重设置为3
5021:dout<=24'h006201; //使用foreground校准
5137:dout<=24'h02C11F; //Alarm Status Register5138:dout<=24'h02C200; //Alarm Mask Register
5139: dout<=24'h006101; ///***///设置 CAL_EN (始终在 JESD_EN 之前)5140: dout<=24'h020001; ///***///设置 JESD_EN (始终在 CAL_EN 之后)
5141: dout<=24'h006B00; //设置使用Calibration Software Trigger
5142: dout<=24'h006C00; ///***///将 CAL_SOFT_TRIG 设置为低电平以复位校准状态机5143: dout<=24'h006C01; ///***///将 CAL_SOFT_TRIG 设置为高电平以启用校准 ,
目前0X02C 02D 02E 寄存器的读出分别是 C1 00 86 ，在器件手册中 表 7. Examples of SYSREF_POS Readings and SYSREF_SEL Selections，没有看到SYSREF_POS[23:0] 与 OPTIMAL SYSREF_SEL SETTING 相应的映射，
目前0X2B2 2B3 2B4寄存器的读出分别是 15 4D 02, 表明SRC_DONE 未完成，
目前0X06A寄存器读出是 08，表明FG_DONE 始终未完成，
请问是什么原因？请问有相应的自动foreground校准的配置代码吗？
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linwei hu：
目前ADC12DJ3200的2个子ADC分别输出的数据如下： 应该是校准未做好。
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Cherry Zhou：
新的问题我们反馈给工程师看下，应该会在下周工作日给到您答复。
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linwei hu：
好的，非常感谢
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linwei hu：
您好，很抱歉打扰您，请问我们遇到的问题可否有工程师的解答了？非常感谢
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linwei hu：
您好，非常抱歉打扰您，目前我们仍然困于这个问题，不知道怎么解决，请问该问题可否有工程师的解答？非常感谢您
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Cherry Zhou：
您好，十分抱歉，我们再来催促下工程师看看，我们把英文论坛的链接给您贴在下面：
https://e2e.ti.com/support/data-converters-group/data-converters/f/data-converters-forum/1231651/adc12dj3200-jmode1-data-stitching-issue
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Cherry Zhou：
请看以下答复：
以下是更新后的寄存器写入：
SCR_DONE 未完成意味着未正确校准 sysref。 请确保 sysref 到达 ADC。
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linwei hu：
好的，衷心感谢您的耐心解答。
