Part Number:LAUNCHXL-CC26X2R1
专家您好:
我采用的是sdk5.30,3块cc2652和1块AOA-boostxl,进行搭载实验。
配置是如下图1所示的,我采集到的IQ数据是:每个pkt 中的sample_idx采集180组(0-179),如下图2所示。这180组我理解的是:32+4*37
我将采集到的IQ数据分成天线1与天线2。sample1中有1us采样4个IQ数据,sample3采样的是天线1下一个4个IQ数据,这两个天线1的采样间隔了7us。然而按照载波250KHz的频率,载波周期为4us。那就是说天线1每4次采样的间隔是1.75个周期。如下图2所示,如果passive与responder角度保持不变的情况下,天线1采集的IQ数据是不是都是一样的(因为每次间隔7us)?但是,图3这个是天线1中的Q数据在图上画出来的点就不是一样的,反而有点呈现周期性变化。这是为什么?我哪里理解错了?
Kevin Qiu1:
现在是周末,将在工作日回复
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Cherry Zhou:
您好我们已收到您的问题并升级到英文论坛寻求帮助,如有答复将尽快回复您。谢谢!
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Cherry Zhou:
您好,建议您首先运行导电测试。 这样由于环境 (反射、并发通信等) 导致的 IQ 不一致将会被删除。 仅显示正交分量,即 IQ 样本的 Q 不会重新创建信号。 也建议您从 IQ 数据中提取信号相位并显示此信息。 有关 AoA 理论的更多详细信息,您可以查看以下链接:
https://dev.ti.com/tirex/content/simplelink_academy_cc13xx_cc26xxsdk_5_40_00_00/modules/rtls_toolbox_ble5/ble_aoa/ble_rtls.html#task-4-ndash-introduction-to-aoa-theory
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tingting wang:
专家您好:
1、这个IQ样本是数据就是根据天线开关切换,以及严格按照您官网上的存储方式得到的。您所谓的 “由于环境 (反射、并发通信等) 导致的 IQ 不一致将会被删除。”在官网的使用文档中并没有体现。我应该在哪里去除这个自动删除?
2、按照理论上,排除您所说的环境因素,我下图画线的地方理解是否正确?
3、这个Q分量数据呈现类正弦信号这样的周期变化好像不是偶然,如果存在环境干扰,那这个干扰会这么规律吗?
4、这是您官网的图,可以不可以给我提供横坐标70之后的图象呢?可不可以把画这个图象的脚本提供给我参考下?
感谢专家的耐心解惑!!!十分感激
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Cherry Zhou:
tingting wang 说:这个IQ样本是数据就是根据天线开关切换,以及严格按照您官网上的存储方式得到的。您所谓的 “由于环境 (反射、并发通信等) 导致的 IQ 不一致将会被删除。”在官网的使用文档中并没有体现。我应该在哪里去除这个自动删除?
您好,正如之前给您的答复,导电射频传输 (即使用射频电缆) 有助于降低测量中的噪声。 或者可以在消声室中运行测量。
tingting wang 说:按照理论上,排除您所说的环境因素,我下图画线的地方理解是否正确?
不完全正确。 每个周期的值应该相同 (不是每半个周期,除非您考虑 0)。 在您的这个问题中,周期为 14 个样本。
tingting wang 说:这是您官网的图,可以不可以给我提供横坐标70之后的图象呢?可不可以把画这个图象的脚本提供给我参考下
此图基本上打印出每个样本的 Q 和 I了。 工程师这边也无法提供公式了。
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tingting wang:
感谢专家您的回复,最后一个疑问:这个采样通道数目有时候27个、有时候28个,通过哪个采样通道是否可以人为控制?如果可以控制,是在哪里进行控制?
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Cherry Zhou:
好的已经反馈给工程师这边了,有答复尽快给到您哈。
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Cherry Zhou:
您好,有以下两种方法供您选择:
1. 在所有通道上保持采样,基本上只使用所需通道上的采样数据。
2. 利用 SimpleLink Academy在有限数量的通道上进行采样。