TI中文支持网Part Number:CC2564C
TI的工程师们，你们好。
根据《CC256x Testing Guide – Texas Instruments Wiki.pdf》中我看到了进行BT SIG测试建立的方法，在《RF.TS.p30e2.pdf》中也可以看到SIG定义的各项测试指标，如：
RF/TRM/CA/BV-01-C [Output Power]、RF/TRM/CA/BV-02-C [Power Density]、RF/RCV/CA/BV-01-C [Sensitivity – single slot packets]等测试案例。
我想知道在tester与DUT建立测试后（test activate完成），如何控制DUT进行各个测试案例的切换呢？（如从测试RF/TRM/CA/BV-01-C [Output Power] 切换到 测试RF/RCV/CA/BV-01-C [Sensitivity – single slot packets]）
Cherry Zhou：
您好我们已收到您的问题并升级到英文论坛寻求帮助，如有答复将尽快回复您。谢谢！
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Xinxin：
请问有回复了吗？
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Cherry Zhou：
您好，在您的这个问题中，CC256x 由蓝牙测试仪控制，具体可以查看CC256x 测试指南第 4 页的 "BT RF SIG 模式 " 。HCI 命令可用于将器件置于测试 RF SIG 模式。 完成正确的序列后 (先加载 BT 服务包，然后加载 DUT 脚本) ，BT 测试仪将通过 RF 链路 (LMP) 控制器件。
此时，蓝牙测试仪负责执行每个测试。
