Part Number:LM5007
我司使用TI P/N:LM5007 在实际测试环境下发现输出无电压,3500pcs包装存在203片不良。产品上有两个CRD使用TI芯片,做过实验调换两个CRD功能正常,在换回来又异常。另外更换异常CRD元器件正常工作,想请TI工程师帮助看下是否是我们电路设计原因,图中680K换成电阻小点560K测试正常。
Johnsin Tao:
HI
良品板子和不良品板子芯片互换,都可以正常工作。
不良品更换芯片也可以正常工作。
是这样的?
建议你先确认一下焊接。
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良品板子和不良品板子芯片互换,良品无法工作,不良品工作了,将不良品更换芯片也可以正常工作,焊接确认正常。奇怪的是我们只在1AVK这批次丝印中发现不良,是否存在批次电性差异?
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方便加下我VX:13585873935 了解下,谢谢
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Johnsin Tao:
Hi
从你描述看是芯片损坏。有超过5%的不良,芯片购买自哪里?
有没有做信号上的确认?主要看有没有电压上的异常?特别是启动关闭瞬间。
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关于LM5007批次异常调查报告.doc请查看附件,还是希望电话能沟通下(13585873935),谢谢
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Johnsin Tao:
HI
电路中主要的问题在于VIN和PVDD, 为什么分两个电压? 建议按照datasheet推荐直接接Vin, 这样不用担心时序上的问题。
目前我不清楚如果两者之间出现时序问题是否会导致Ron脚有损坏可能(你们可以模拟看看,反复启动,看能否复制出异常来)
其次你们可以找一下第三方做芯片开盖分析,看一下芯片内部是否有损坏的情况,如果没有,就不排除异常是芯片批次中出现异常的差异导致的问题。
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您好Johnsin,由于疫情我们暂时无法做开盖分析,综合情况基本可以确定是芯片批次参数差异,请问您这边能否确认是不是异常批次参数差异,另外相同情况是否有发生过在此芯片中?就您所说:不排除异常是芯片批次中出现异常的差异导致的问题,这种情况是否满足TI出厂测试功能要求?
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Johnsin Tao:
HI
我觉得可能是不芯片参数差异异常导致的。
你们购买这个批次的芯片是否直接来自TI? 包装上是否有异常?(是否真空包装)。
比较建议做开盖分析来确认。
另外就是上面提到的时序,你们是否有确认。