TI中文支持网Part Number:ADC12DL3200EVMOther Parts Discussed in Thread: ADC12DL3200
使用贵公司的ADC12DL3200EVM与TSWDL3200后采用BackgroundCal，利用TSW设置（1,1）采集模式对16QAM进行双通道交织校正后波形如图所示，请问能告知红色部分，以及直流偏置出现的问题吗。
这个是我用自己的校准算法后的结果也存在标红部分。
这个是一次测的数据，我发现用自己的校准算法对红色频点无效，这些红色频点又是什么？
这是Matlab产生的数据模拟TI-ADC对他进行校准就没有产生这样的问题
Min Hu：
为什么没人回复呢
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Min Hu：
？？？？
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Min Hu：
？？？？
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Amy Luo：
您好，
非常抱歉，我漏掉了您的帖子，对延迟回复表示歉意。
您可以描述您给的图片中横坐标和竖坐标表示数据的含义吗？
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Min Hu：
横坐标是归一化奈奎斯特频率，纵坐标是幅度（dB）
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Amy Luo：
我不确定您要使用Background 校准实现什么功能？ADC校准 是当工作条件（即温度）发生显著变化时，必须重复校准，以保持最佳性能。ADC12DL3200具有built-in calibration routine，可作为foreground 操作或background操作运行。foreground 操作需要ADC停机，此时ADC不再对输入信号进行采样，以完成该过程。background 校准可用于克服此限制，并允许ADC持续运行。
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Min Hu：
您好，那我想知道校准前时间误差大小该怎么做呢？
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Amy Luo：
ADC12DL3200是内置校准过程。通过阅读datasheet 发现可以校准每个bank的线性、增益和偏移电压，可以微调的参数包括输入偏移电压、ADC增益、交错时序和输入端接电阻，如下datasheet 截图表17。
其中您说的 时间误差 是指 双通道模式下的Inter-ADC core timing吗？这个可以微调（Trimming），即通过寄存器TADJ_A, TADJ_B配置
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Min Hu：
通过频谱分析可以得知，TI-ADC系统不经过校准存在的时间误差是很大的，不满足时间误差<<0.01fs的条件，我现在想利用硬件进行初调的话是利用您说的TAD进行吗？
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Min Hu：
通过频谱分析可以得知，TI-ADC系统不经过校准存在的时间误差是很大的，不满足时间误差<<0.01fs的条件，我现在想利用硬件进行初调的话是利用您说的TAD进行吗？
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Min Hu：
另外请问ADC12DL3200EVM的准确的采样带宽范围是多少呢？
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Min Hu：
这个采样带宽指的是两个ADC子核的采样带宽，实际上是有差异的，我想知道这两个子核的差异范围在多少
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Amy Luo：
我不知道您是怎样从频谱分析图中看出来其存在的很大时间误差的，但是看下面截图蓝色部分notes部分，应该是调节的这个时间
双通道模式下，其全功率输入带宽为8GHZ，数据手册6.11 Typical Characteristics也有一些特性曲线图您可以参考。
我没有找到这两个子核的差异范围，数据手册给出的是最终的性能结果，比如说有效位(ENOB)、信号噪声比(SNR)和无杂散动态范围(SFDR)等参数
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Min Hu：
我现在有ADC12DL3200EVM与TSW14DL3200.请问我该如何去调节您之前说的微调误差（offset，gain and timeskew）呢？
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Amy Luo：
根据手册如下截图的说明，可通过相关寄存器调整，具体见表17 第二列，有关可用微调参数和相关寄存器的信息，请参阅7.4.9 Trimming部分
截图内容我翻译成中文：
除了校准外，有许多ADC参数可由用户控制，以提供最佳性能的微调。这些参数包括输入偏移电压、ADC增益、交错时序和输入端接电阻。默认trim值在出厂时编程设定为每个设备的唯一值，该值在测试系统运行条件下被确定为最佳值。可从trim 寄存器读取出厂编程值，并根据需要进行调整。控制微调的寄存器字段根据正在采样的输入（INA±或INB±）、正在微调的bank或正在微调的ADC核心进行标记。trim值预计不会随着操作条件的变化而变化，但这样做可以获得最佳性能。由于工艺变化，任何微调都必须按设备进行，这意味着没有针对所有零件的全局最佳设置。
