TI中文支持网Part Number:ADS8688A
群里的大神，我正在用ADS8688A芯片进行模拟信号采样设计，MCU用两个SPI接口分别操作两个ADS8688A，但是系统在运行一段时间后发现其中一片ADS8688A采样异常，8个模拟通道采集数据都是最大值，且数据固定不变，系统重新上电后不可恢复，还是采样的最大值。我的系统采集信号范围是AC±10V信号，检测芯片的REFIO和REFCAP引脚电压都是4.07V左右，没有异常。请问这个是什么原因？
Amy Luo：
您好，
您可以读一下异常芯片的寄存器配置此时是怎样的吗？
异常时，供电电压是多少？输入的模拟信号幅值是什么？同时，您可以用示波器捕获出SPI采集信号的波形吗？
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user4002617：
从目前分析的情况，是因为交流模拟信号采集前端干扰信号幅值太大引起ADC输入端口被冲掉了，测量到的干扰信号瞬间幅值达到了40V左右，请问在信号输入前端加什么类型的TVS管比较合适，有推荐的型号吗？本系统前端提供的信号是±10V的交流信号。
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Amy Luo：
下面文档是一个设计示例，讲解了TVS的选择方法：
https://www.ti.com.cn/cn/lit/an/sbaa376/sbaa376.pdf
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user4002617：
AMY luo：你好，昨天的测试中发现新换的ADS8688A芯片内部参考电压不准确，REFIO引脚外部接10UF电容，REFCAP引脚外接22uf和1UF电容，在这两个引脚上测量的电压值总是在2.8V波动且有下降的趋势，请问这是什么原因引起的，外部有什么会影响这个值吗？
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Amy Luo：
也就是说同样的电路板，之前的ADS8688A 芯片是正常的，新换的ADS8688A芯片内部参考电压不准确？那么，您测试了几块电路板是这种情况？是否尝试多测试几块电路板以排除焊接原因？或者是否是芯片的原因，之前和新换的芯片是一个批次吗？进货渠道一样吗？
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user4002617：
渠道是一样的，批次可能不同，相差了几个月。刚才在ADS8688A的信号输入引脚上增加了双向TVS管，型号为PSD15C-LF-T7，电压等级15V，但是还是烧芯片，起不到保护作用，请大神分析下什么原因啊？
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Amy Luo：
关于内部参考电压不准确的问题，排除焊接原因后，您可以与之前的ADS8688A 芯片做下交叉验证实验，以确认是否为产品问题；
加双向TVS管后还是烧芯片，那么是TVS管同时烧毁了吗？
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user4002617：
AmyLuo你好，从目前情况看新焊接的芯片系统上电参考电压就不准，可能跟焊接温度有关系，但是数据手册上讲只有mv级的变化，不会有这么大的影响才对啊。还有一个问题请教，系统在运行过程中，因ADS8688A工作异常导致控制芯片读取ADC的数据突然变乱，此时ADS8688A芯片的基准会变化，从4.069V一直下降中，且伴随芯片发烫，当系统重新上电后，芯片又能恢复到正常读取数据的情况，芯片也不发热。请问这个情况下ADS8688A芯片是否意味着已经坏掉了？
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user4002617：
AmyLuo你好，还有一个问题请教，如果ADS8688A的AVDD供电的5V电源存在扰动，幅值存在一个类似正弦波，正值到19V，负值到-17V，持续时间大约660ns,请问这个扰动是否会影响基准，从而导致ADS8688A工作异常，导致外部控制芯片读取的采样数据变乱？如果要减少这个扰动的幅值，在5V上增加对模拟地的双向TVS是否可行，TVS的电压等级选多大比较合适？
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Amy Luo：
user4002617 说：系统在运行过程中，因ADS8688A工作异常导致控制芯片读取ADC的数据突然变乱，此时ADS8688A芯片的基准会变化，从4.069V一直下降中，且伴随芯片发烫，当系统重新上电后，芯片又能恢复到正常读取数据的情况，芯片也不发热。请问这个情况下ADS8688A芯片是否意味着已经坏掉了？
这个不能确定是否损坏，这种现象是可以重复出现的吗？是否排除了接线不牢固或者虚焊的问题，另外，异常时供电电压是否异常？
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Amy Luo：
AVDD供电电压的绝对最大额定值是-0.3V ~ 7V，如果正值到19V，负值到-17V，那么芯片应该已经损坏，因为这已经超过了AVDD的绝对最大额定值。
我认为仅从加TVS管的方法去解决这个问题不妥，需要检查那么大扰动产生的原因，看是否可以避免这个扰动，即看是其他电路对其产生的扰动还是供电电路本身存在问题？
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user4002617：
Amy Luo ,你好！①从目前测试情况看，AVDD供电电压扰动范围正值到19V，负值到-17V系示波器被干扰所致，后来改变测试方式，AVDD存在扰动，但幅值在+12V和-3V以内波动，波动持续时间大概6-7nS。请问在这个持续时间内的扰动会影响到芯片的正常工作吗？②关于系统在运行过程中，因ADS8688A工作异常导致控制芯片读取ADC的数据突然变乱，此时ADS8688A芯片的基准会变化，从4.069V一直下降中，且伴随芯片发烫，当系统重新上电后，芯片又能恢复到正常读取数据的情况，芯片也不发热。这种情况可以复现，主要在ADC数据读取变乱时，且基准电压持续下降。基本可以排除芯片虚焊,如果存在供电电压扰动，就如①中所述，但是系统的主控芯片和FPGA芯片都能工作正常。
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Amy Luo：
1、上述表格中参数是绝对最大额定值，长时间暴露在绝对最大额定条件下可能会影响设备的可靠性。因此，不能保证长时间这样运行其测量数据的可靠性。
另外，ADC还存在一个电源抑制比PSRR参数，这个参数就是表征电源波动对AD采集数据精度影响的参数，一般来说，电源纹波幅值越大，频率越高，PSRR越低，对AD采集精度影响越大。
2、ADC数据读取变乱，可能是由基准电压持续下降造成的，您是使用的外部基准，还是内部基准？
如果使用的是内部基准，那么基准电压持续下降，也可能是供电电压存在大的扰动造成的。
