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TMS320F28377D 中CAN通信以及双核程序烧写FLASH时,CAN程序影响CPU2中ADC的正常采样

最近调试TMS320F28377D,程序框架为双核,其中CAN通信在CPU1中,ADC采样在CPU2中。程序跑RAM时,CAN通信和CPU2中的ADC均能正常工作。当烧写FLASH后,CPU2中的ADC却不能正常采样,(CPU2中的其他程序正常运行)。当把CPU1中的CAN通信程序注释掉,再次烧写FLASH后,ADC可以可以正常工作了。考虑是CAN通信和CPU2中的ADC程序在FLASH中存在冲突,是否有相应的解决办法?

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