TI中文支持网1，CEVD（Comparison end of discharge voltage）放电截止电压补偿法的特点：
1.1 以老型号SN8760，BQ3060为例，需要对电池做3种放电曲线(高、中、低温度下)，再计算出放电截止点。此种方案多应用于笔记本，小功率设备。缺陷有：a量产必须循环学习，否则电量不准；b用户在经常不满充、慢放期间，电池电量偏移的离谱；c电池在大电流充放电时，sense电阻温漂大，采样不准，导致库仑计不准，RSOC跟remain/full charge capacity 响应的也慢。
1.2 新型号 BQ4050,BQ78350-R1,需要对电池做6种放电曲线（高、低速下的高、中、低温）
sense电阻支持1mR的检测，库仑计更准确，电流大于10A时，几乎没有偏差，我测试过，30A也只漂40mA-50mA。优点：相比老型号，支持更高的电压电池组检测，精度不受大电流影响；还有很多隐藏的改进只有在做电池组老化的时候也能感觉到。
BQ76930，BQ76940前端支持10-15串甚至更高的电压、电流、容量检测。适用于中压电池组的BMS模块。
1.3 CEVD算法注重于放电期间检测，适用于磷酸铁锂电池，铁电池的曲线没有三元/锰/钴酸锂
那么弯曲平滑，它的有效平台接近直线，impedance track方法 不合适磷酸铁锂电池检测。
2，Impedance track阻抗跟踪法的特点：
2.1 以老型号BQ27541，BQ20Z95，BQ20Z75，BQ20Z45为例。
2.11 BQ27541在2011-2012年应用的比较广，iphone4 的电池就是使用这个方案，因为是单节不带保护功能，所以要在电芯加PCM模块。后续TI也推出了配合运放TLV2241 检测2节电池的方案，适用于2串电池包检测，其优点为：开发简单，不需要循环学习，成本低，适合数码、音箱消费类电子产品。缺点为：不带保护功能，大电流检测不准。
2.12 BQ20Zxx系列为2-4串电池检测芯片，多用于新型笔记本电池，中小功率设备电池。优点：电池不需要循环学习，较CEDV算法准确。缺点：封装比较大，不利于小电池板的布局；外围电路复杂，热敏电阻检测需要搭建外围电路；大电流检测不准确。
2.2 新型的BQ40Z50-R1,BQ78Z100，BQ26Z610，BQ34Z100G1，BQ27741。大概是2015年推出来的，芯片支持1mR检测，除了BQ34Z100G1，都带保护功能，电量检测相比老型号的芯片，精度高了很多。BQ34Z100G1是个特殊的IC，直接接在电池两端，支持高电压65V电量管理，开发简单，适合功能不复杂的项目。
Annie Liu：
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