TI中文支持网Part Number:UCC27524
使用UUC27524作驱动芯片驱动半桥LLCmos，驱动信号由DSP发波，整体电路大概是三电平LLC，分上下BUS，上下各三组半桥。
出现的问题是，当我用差分探头直接连接UUC27524的输入端检查输入信号时，其中一路LLC MOS会必坏，而连接在驱动电阻前就会没事，公司的好几代产品都是这样，工程师们都知道这个IC的问题。
请问输入端连接了差分探头就能干扰到驱动芯片而导致炸MOS?
Johnsin Tao：
Hi
示波器的连通电线，你用的是两头插座，还是三头的？ 注意只能用两头， 三头就会出现炸机现象。
其次你测量时，如果是一次侧信号，需要选择一次侧的GND, 同样二次侧测量选择二次侧的GND.
其他的除非示波器探棒本身带有较大的寄生参数会导致驱动异常（以前侧量，一般普通探棒，也就是信号不准，但是有些产生了一定的容性效应，可能有点影响）
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ddr chen：
我使用的是差分探头，和地无关。公司实验室示波器一直这样用的，只有示波器测驱动芯片的输入端时才会炸管子。能百分百复現
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Johnsin Tao：
Hi
示波器的导线插头呢？ 以前我也用差分探棒的，没有发现过这种异常。
能拍些照片过来看看吗？
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ddr chen：
使用的是这种探头和连接器，肯定是地线无关的。感觉就是探头夹上去会干扰到输入信号，要夹到驱动电阻前才会没事。
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Johnsin Tao：
Hi
没有用过，我用的是两外一种，确认很可能是探头干扰（以前我也遇到过，但是不是差分探头）
或者你可以测试其他比较敏感的信号，不要是驱动容易烧芯片，而是干扰容易造成不稳定的情况，例如频率控制脚，反馈，补偿等等，看有没有产生不稳定的情况。
