TI中文支持网Part Number:BQ76952
具体型号为BQ7695202，在使用模拟IIC读取数据会读取到异常数据
在测试过程中，测试14S系统，单体电压约3.53左右，在采集Stack Volt、PACK Pin Volt、LD pin Volt的时候，可能偶发的采集到电压约为380V，
温度值可能偶发采集到3588K，读取单体数据无异常。在通讯时使用了CRC，并且CRC校准正常，为什么我采集到数据会出现这类异常？
Cherry Zhou：
为了更好地解决您的问题，您能否提供以下信息：
请问异常数据显示的频率大概为多久一次？以及系统在大多数时间是否正常工作？
请您对堆栈、电池组和 LD 电压进行校准，虽然电池电压在没有校准的情况下非常精确，但我们还是推荐您再检查一下。
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wenfeng zeng：
在系统闭合充放电FET后，静置大约2分钟就可能出现有部分数据出现异常，数据大部分时候是正常的，是偶尔出现数据异常
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Cherry Zhou：
好的感谢您提供的信息，已跟进给工程师。如有答复将尽快跟进给您。
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Cherry Zhou：
为了更好地解决您的问题，您能否提供以下信息：
1. 检测到数据中的错误时，您能否提供通信线路的逻辑分析器图片？
2. 您能否提供原理图？ 在充电或放电 FET 关闭之后发现异常数据确实很奇怪。
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wenfeng zeng：
以上是在带CRC模式的下读取数据返回的波形，根据波形解析到数据与MCU接收到的数据一致
可否提供一个Email，方便将原理图给予分析
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Cherry Zhou：
由于我们是将您的问题升级到英文论坛，所以不太方便直接提供工程师的邮箱。非常抱歉，您可以直接在该帖中上传原理图。感谢理解！
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wenfeng zeng：
以上为AFE侧与MCU侧的IIC的原理图
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Cherry Zhou：
感谢您提供的原理图，我们正在查看中。
此外您能否上传逻辑分析仪中的I2C 数据？
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wenfeng zeng：
上面已经提供了异常通讯的示波器数据，暂时没有逻辑分析仪设备可以使用
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Cherry Zhou：
好的感谢您的信息，已跟进给工程师，如有答复将尽快回复您。
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Cherry Zhou：
您好，您能否提供数据日志？我们从您提供的原理图中并没有发现问题。感谢您的配合！
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wenfeng zeng：
选中内容是出现异常的数据，这里没办法上传文件，无法将逻辑分析仪采集到日志上传
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Cherry Zhou：
感谢您提供的信息，已跟进给工程师。同时您可以在回复栏中点击“插入”，选择“图像/视频/文件”，点击灰色的“上传”，选择您需要上传的文件即可。
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Cherry Zhou：
您好，工程师已查看过您的原理图，能否请您上传原理图的pdf文件，您可以按照以上回复中的步骤上传pdf文件。非常感谢！
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wenfeng zeng：
还需要那一部分的原理图内容？
这个涉及公司保密协议，无法在这个上面提供；能否预留邮箱或者其他加密方式进行沟通？或者可以派工程师到现场进行分析
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Cherry Zhou：
已帮您反馈给工程师，我们是将您的问题升级到英文论坛进行处理，所以不太方便提供邮箱等方式。敬请谅解！
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Cherry Zhou：
您好，能否请您上传之前发送的原理图的更高分辨率的图像？最好是 PDF 格式，不需要其他的信息。
同时能否请您确认以下信息：
1. 请问在运行期间您是否激活电池平衡？
2. 您的寄存器设置是什么？ 以及您是否方便上传这些内容？
感谢您的配合！
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wenfeng zeng：
在运行的时候从来没有开启过电池平衡
以下为配置内容，其他未配置内容为默认参数
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Cherry Zhou：
好的感谢您提供的信息，已跟进给工程师，如有答复将尽快回复您。
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Cherry Zhou：
我们注意到，在设置中，电源配置寄存器中的 loop_slow 位被设置为最慢。 这是否有可能在测量之前读取寄存器？测量环路的设置约为 500ms。
我们建议您将电源配置寄存器设置为 0x0000进行尝试，然后查看问题是否还是存在。
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wenfeng zeng：
已经更改并测试 与原来现象一致，并没有得到改善，我们后续也会更正这个配置
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Cherry Zhou：
好的感谢您的反馈，已跟进给工程师，如有新信息会尽快给到您。
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Cherry Zhou：
您好，我们使用您发送的设置进行了一个实验，但并没有观察到这个问题。 以前也没有看到任何用户报告过这种问题。
您的系统可能与我们的有些不同。之前您提到该问题仅在 FET 首次闭合时发生。
我已通过邮箱给您发送相关信息，请注意查收。
