TI中文支持网Part Number:TLV62569
目前产品总量2W左右，返修出现电源IC TLV62569损坏的达0.5%，损坏芯片VIN和SW脚对地短路
产品工作环境为充电宝5V供电。
对产品进行了ESD测试，在电源VBUS端打接触8KV，空气15KV，没有损坏
浪涌测试，在±170V时，TLV62569损坏
电路图 和 SW 波形如下，目前测试发现的SW下冲最大达-2.5左右，芯片SW极限是-3V，不确定有没有影响
Johnsin Tao：
Hi
输入端建议增加一个大功率TVS管保护一下，因为你输入实际存在热插拔，所以Vin会存在较大的spike电压导致芯片烧掉。
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user4859198：
目前主要是不确定是不是热插拔导致的损坏，因为（1）5V进来，除了62569，还有richtek的RT5788，目前损坏的全是TLV62569，RT5788没坏（2）浪涌测试能扛到160V，应该也不至于这么容易坏
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user4859198：
VIN是5V，目前SW的上冲和下冲达7V，-2V，是否会有烧坏MOS的风险？
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user4859198：
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Johnsin Tao：
Hi
芯片本身5.5V最高输入，超过6V就有损坏风险，所以热插拔是容易烧掉的。
其次SW的上冲和下冲都是有风险的，你需要注意SW脚的layout，可以参考datasheet,避免有寄生参数产生的震荡。
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user4859198：
SW脚的layout，走线已经是最短了，见附图（绿色铜皮）。FB反馈电阻也是放在了管脚旁边。除此之外，还有其他地方可以优化的吗？
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Johnsin Tao：
Hi
从你提供的SW脚波形看在开关是有上冲和负压的，layout具体参考datasheet.
输入注意输入电容尽量靠近芯片Vin脚，输入走线尽量宽一点，避免输入参数寄生造成输入产生spike.
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user4859198：
你好，我们对失效的芯片做了开封检测，照片如下。从中是否可以大概判断出损坏的原因？是否可以指出哪根线对应的是哪个信号？请协助分析一下
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user4859198：
另外一片失效芯片如下，右下角黑块是否可能为过流损坏?
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Johnsin Tao：
Hi
按照开盖分析报告来即可，我们一般是以电路来分析（不牵涉到开盖分析）
