TI中文支持网Part Number:TLV3502
TI工程师们，您好
我最近参考了TI的参考设计TIDA-00961，里面用到了TLV3502比较器来用于掉电检测，这个电路的原理应该是R415和C412两个元件共同作用，当输入电压正常时，由于R415分压导致比较器同相端电压低于反相端电压，比较器输出低电平；当交流输入掉电时，由于C412维持了同相端电压一段时间，导致同相端电压会短暂的高于反向端，比较器输出一个高电平脉冲，用于检测输出掉电。
Fig.1
然后我们参考了这个电路设计了掉电保护电路，但是实际测试时出现了一些问题。由下图可以看到此时反向端电压始终高于同相端，不过在测试时发现一个现象，当我们用示波器的探头(非隔离或差分探头都使用过)检测上图所示TLV3502的1、2、7三个引脚时，会导致TLV3502的输入信号发生震荡，像Fig.3所示，这时候由于输入信号发生了震荡，导致实际上反相端震荡幅度较大（大于或小于同相端），比较器也会不停在高低电平切换。这个现象我们发现当把示波器的探头取下来在放上去就会消失，出现正常波形，但是继续上电就会继续出现震荡。如果不用探头测量TLV3502输入脚，会发现电路能正常工作，所以这是测量导致的问题吗？
Fig.2
CH2：TLV3502输入同相端，CH3：TLV3502输入反相端
Fig.3
CH1：TLV3502输出；CH2：TLV3502输入同相端；CH3：TLV3502输入反相端
Fig.4
CH1：TLV3502输出；CH2：TLV3502输入同相端；CH3：TLV3502输入反相端
所以想请问TI的工程师们对于这个现象有没有什么建议，让我们能发现是因为什么导致的震荡。十分感谢。
Amy Luo：
您好，
这应该是示波器探头的输入电容造成的，示波器的输入电容不是刻意做进去的，而是探头的寄生电容，当探头放在电路板上探测信号时，就相当于给电路板的探测端接入了这个寄生电容，会对高速电路造成一定的影响。TLV3502是高速比较器，在设计TLV3502 电路时，需尽量减少寄生参数的引入。TLV3502 datasheet 8.2.1 Relaxation Oscillator部分就是一个寄生电容对电路参数影响的一个例子
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Suiyang Hu：
您好，谢谢您的回复，如果是因为探头的寄生电容导致比较器的震荡，那有没有缓解的措施呢？现在发现就是只要连接上探头，就会引起比较器输入侧的震荡，导致比较器工作不正常。
之前就是因为电路在某些情况下会有检测不到输入掉电的现象，所以就检测比较器的输入侧，看此时的波形来分析原因，如果加上探头就会导致震荡的话，在测试功能是有些不方便分析原理。
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Amy Luo：
您能尝试给比较器加一个小的迟滞吗，即使用迟滞比较器，如datasheet 8.1.1 Adding External Hysteresis部分，看是否可以解决问题？
或者使用输入电容比较小的示波器探头进行探测
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Amy Luo：
示波器探测比较器输入管脚时，输入信号是因为震荡完全失真了吗？如果是完全失真了，那么迟滞比较器是解决不了问题的
迟滞比较器只能避免输入信号上小的噪声干扰造成的不期望的输出翻转
