TI中文支持网Part Number:RM57L843
你好，针对上一次那个问题，我还是有一些疑惑，就是ESM只有一个nError输出引脚，如果同时有多个错误产生，怎么判断是谁出现了问题。是不是这时候就需要用诊断库各模块的API来测试是哪一部分出了问题是吗。另外对于可修正的1-bit ECC 错误，是它自动修复，还是说得通过调用其对应的诊断API来进行1位纠错。这个诊断API的返回值（TRUE/FALSE）指的是成功测试与否，还是出现问题与否呢。
Cherry Zhou：
您好，我们已收到您的问题并升级到英文论坛，如有答复将尽快回复您。谢谢！
https://e2echina.ti.com/support/microcontrollers/other/f/other-microcontrollers-forum/214998/rm57l843-esm
您指的是这个问题是的吧？我们目前还在帮您跟进，最近工程师外出了所以可能会晚点给您答复。
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Cherry Zhou：
yuyang xie 说：就是ESM只有一个nError输出引脚，如果同时有多个错误产生，怎么判断是谁出现了问题。是不是这时候就需要用诊断库各模块的API来测试是哪一部分出了问题是吗。
ESM 通道分为三组。 group 1 通道被认为是low severity。
group1 错误具有可配置的中断响应和可配置的 ERROR pin behavior.。
group 2 通道具有ERROR high severity。 group 2 错误始终在错误引脚上生成高优先级中断和输出。
group 3 通道不会生成中断，但会始终生成错误引脚输出。
您需要检查 ESM 状态寄存器以确定设置了哪些flags。
yuyang xie 说：另外对于可修正的1-bit ECC 错误，是它自动修复，还是说得通过调用其对应的诊断API来进行1位纠错。
SRAM和Flash受SECDED保护，对于1-bit ECC error，会自动修复。
yuyang xie 说：这个诊断API的返回值（TRUE/FALSE）指的是成功测试与否，还是出现问题与否呢。
API 的最后一个参数 (SL_Selftest_SRAM () 和 SL_Selftest_Flash ()) 是测试结果和测试状态。
boolean SL_SelfTest_SRAM(SL_SelfTestType testType, boolean bMode, SL_SelfTest_Result* sram_stResult);
boolean SL_SelfTest_Flash (SL_SelfTestType testType, boolean bMode, SL_SelfTest_Result* flash_stResult);
