TI中文支持网Part Number:CCSTUDIO-C2000
将28034的程序从CCS3.3导入到CCS11，导入完成后，经编译没有错误。在烧录前，开发板上已有程序，并且该程序是加密的(密码知道)。当我把仿真器连接到开发板并且上电后，仿真器测试连接如下：
[Start: Texas Instruments XDS2xx USB Debug Probe_0]
Execute the command:
%ccs_base%/common/uscif/dbgjtag -f %boarddatafile% -rv -o -S integrity
[Result]
—–[Print the board config pathname(s)]————————————
C:\Users\ADMINI~1\AppData\Local\TEXASI~1\
CCS\ccs1100\0\0\BrdDat\testBoard.dat
—–[Print the reset-command software log-file]—————————–
This utility has selected a 560/2xx-class product.
This utility will load the program 'xds2xxu.out'.
The library build date was 'Oct 8 2021'.
The library build time was '18:03:35'.
The library package version is '9.5.0.00143'.
The library component version is '35.35.0.0'.
The controller does not use a programmable FPGA.
The controller has a version number of '13' (0x0000000d).
The controller has an insertion length of '0' (0x00000000).
This utility will attempt to reset the controller.
This utility has successfully reset the controller.
—–[Print the reset-command hardware log-file]—————————–
This emulator does not create a reset log-file.
—–[Perform the Integrity scan-test on the JTAG IR]————————
This test will use blocks of 64 32-bit words.
This test will be applied just once.
Do a test using 0xFFFFFFFF.
Scan tests: 1, skipped: 0, failed: 0
Do a test using 0x00000000.
Scan tests: 2, skipped: 0, failed: 0
Do a test using 0xFE03E0E2.
Scan tests: 3, skipped: 0, failed: 0
Do a test using 0x01FC1F1D.
Scan tests: 4, skipped: 0, failed: 0
Do a test using 0x5533CCAA.
Scan tests: 5, skipped: 0, failed: 0
Do a test using 0xAACC3355.
Scan tests: 6, skipped: 0, failed: 0
All of the values were scanned correctly.
The JTAG IR Integrity scan-test has succeeded.
—–[Perform the Integrity scan-test on the JTAG DR]————————
This test will use blocks of 64 32-bit words.
This test will be applied just once.
Do a test using 0xFFFFFFFF.
Scan tests: 1, skipped: 0, failed: 0
Do a test using 0x00000000.
Scan tests: 2, skipped: 0, failed: 0
Do a test using 0xFE03E0E2.
Scan tests: 3, skipped: 0, failed: 0
Do a test using 0x01FC1F1D.
Scan tests: 4, skipped: 0, failed: 0
Do a test using 0x5533CCAA.
Scan tests: 5, skipped: 0, failed: 0
Do a test using 0xAACC3355.
Scan tests: 6, skipped: 0, failed: 0
All of the values were scanned correctly.
The JTAG DR Integrity scan-test has succeeded.
[End: Texas Instruments XDS2xx USB Debug Probe_0]
但是当我点击Run–>Conncet Target时弹出如下错误：
Error connecting to the target:
(Error -1015 @ 0x0)
Device is not responding to the request. Device may be locked, or the debug probe connection may be unreliable. Unlock the device if possible (e.g. use wait in reset mode, and power-cycle the board). If error persists, confirm configuration and/or try more reliable JTAG settings (e.g. lower TCLK).
(Emulation package 9.5.0.00143)
此时我看了一下开发板，发现此时开发板处于正常运行状态，也就是说没有在“等待”模式（或者复位状态）；为了让28034在连接仿真器前处于复位状态，上电前将复位信号强制拉低，然后继续按照上面的操作点击Conncet Target时，仿真器连接成功，在On-Chip Flash中输入正确密码也能解密。
我这里疑惑的是，我在CCS3.3环境下用XDS510时不需要上电前去将复位信号拉低就可以连接仿真器，而在CCS11环境下用XDS200时却需要这样做，这是为什么？难道是因为XDS200仿真器在连接过程中不支持复位CPU导致的？还请各位大佬解惑！
Green Deng：
这个很抱歉，我们这里没有测试过XDS110仿真器的解密过程。不过之前测试XDS100的时候正常的连接步骤确实是需要先配置为wait模式再连接仿真器，但是原因应该也不是“不支持复位CPU”，因为就XDS100而言，信号引脚是包含复位引脚的。
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ds zhang：
谢谢的的回答。XDS100V3的我也用过，跟XDS200是一样的，需要将XRS信号在上电前拉低才能连接仿真器；我对比了一下XDS510和XDS200在开发板接上仿真器时状态，接上XDS510时，开发板上的28034上电后一直处于复位状态，而接上XDS200时，开发板上的28034上电后直接进入正常的执行状态了。你说的“信号引脚是包含复位引脚的”的信号是指TRST吗？当我在上电前将TRST强制拉低后，28034上电后也没有进入复位状态。
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Green Deng：
解密的话下拉reset脚应该不是必须的，但我测试的情况是必须配置为wait模式才能进on-chip flash模式。
连接仿真器之后，reset引脚（也就是TRST）会被仿真器拉低，从而芯片被仿真器接管。也就是芯片boot mode中TRST引脚为低的那种情况。
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ds zhang：
谢谢你的回答。是的，我测试过程序不加密的情况下是可以直接连接仿真器的，而且连接成功后芯片是处于wait模式的，但是程序加密之后第二次上电烧写就不行了，必须要在上电前手动将复位信号拉低才能连接上。我在想是不是我用的仿真器不支持连接的时候将TRST引脚拉低？但是这也解释不了为什么程序不加密的情况下可以直接连接上啊。
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Green Deng：
可能这个问题需要麻烦你前往英文E2E论坛咨询一下那边的工程师了，英文论坛应该有单独的仿真器方面的专家可以为你提供帮助：e2e.ti.com/…/c2000-microcontrollers-forum
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ds zhang：
好的，谢谢！
